Invention Grant
- Patent Title: 一种电子设备部件的特性检测方法和电子设备
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Application No.: CN201810973992.4Application Date: 2018-08-24
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Publication No.: CN109101353BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 黄凯
- Applicant: 联想(北京)有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区上地信息产业基地创业路6号
- Assignee: 联想(北京)有限公司
- Current Assignee: 联想(北京)有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区上地信息产业基地创业路6号
- Agency: 北京集佳知识产权代理有限公司
- Agent 王宝筠
- Main IPC: G06F11/00
- IPC: G06F11/00
Abstract:
本申请提供了一种电子设备部件的特性检测方法，包括：依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。采用该方法，能够对内存的各种特性进行针对性的检测，解决了现有技术中无法对内存RAS进行检测的问题。
Public/Granted literature
- CN109101353A 一种电子设备部件的特性检测方法和电子设备 Public/Granted day:2018-12-28
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