Invention Grant
- Patent Title: 一种获取过采样图像的方法
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Application No.: CN201811160279.4Application Date: 2018-09-30
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Publication No.: CN109246343BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 刘秀 , 刘咏 , 张翠 , 宋立国 , 吴春楠 , 李小兵 , 张春
- Applicant: 北京空间机电研究所
- Applicant Address: 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱
- Assignee: 北京空间机电研究所
- Current Assignee: 北京空间机电研究所
- Current Assignee Address: 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 李晶尧
- Main IPC: H04N5/225
- IPC: H04N5/225 ; H04N5/232 ; H04N5/247

Abstract:
一种获取过采样图像的方法,涉及面阵CMOS或CCD相机分辨率提升技术领域;包括如下步骤:步骤一、建立水平放置的L型半反射半透射棱镜组;步骤二、在L型棱镜组的一侧放置镜头;在L型棱镜组的对应位置放置第一面阵器、第二面阵器、第三面阵器和第四面阵器;步骤三、四个面阵器对同一对象同时曝光成像,均生成M×N个像元数的图像;其中第一面阵器生成第一图像;第二面阵器生成第二图像;第三面阵器生成第三图像;第四面阵器生成第四图像;步骤四、设定网格,将4个图像均嵌入设定网格中,即获取像元数为单个面阵器像元数2倍的过采样图像;本发明提升采用频率、获取过采样图像,然后进行超分辨率重建处理,最终提高分辨率。
Public/Granted literature
- CN109246343A 一种获取过采样图像的方法 Public/Granted day:2019-01-18
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