Invention Publication
- Patent Title: 用于加压流体的样品处理设备和其X射线分析器应用
-
Application No.: CN201780017561.4Application Date: 2017-03-13
-
Publication No.: CN109313146APublication Date: 2019-02-05
- Inventor: 约瑟夫·J·斯班纳左拉·III , 杰·波得特 , 陈泽伍 , 丹尼尔·顿汗姆
- Applicant: X射线光学系统公司
- Applicant Address: 美国纽约
- Assignee: X射线光学系统公司
- Current Assignee: X射线光学系统公司
- Current Assignee Address: 美国纽约
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Agent 张顺涛
- Priority: 62/307,752 2016.03.14 US
- International Application: PCT/US2017/022077 2017.03.13
- International Announcement: WO2017/160705 EN 2017.09.21
- Date entered country: 2018-09-14
- Main IPC: G01N23/223
- IPC: G01N23/223 ; G01N23/2202

Abstract:
一种用于材料分析的样品处理设备/技术/方法,包括:样品载体,所述样品载体用于将加压样品(例如,LPG)呈现给所述分析器的样品焦点区域;可移除固定装置,所述可移除固定装置用于将所述加压样品装入到所述样品载体中;所述可移除固定装置包括至少一个端口以向所述固定装置和载体提供样品以及从所述固定装置和载体提供样品。所述样品处理设备可以包括保持器,其中所述样品载体使用所述保持器可移除地与所述固定装置组合,所述设备可插入到所述分析器中以用于样品分析;并且其中所述保持器包括孔,所述孔用于将所述样品从所述载体的靠近所述孔的薄膜式下端呈现到所述焦点区域。
Public/Granted literature
- CN109313146B 用于加压流体的样品处理设备和其X射线分析器应用 Public/Granted day:2021-04-13
Information query