Invention Publication
- Patent Title: 一种低剂量率辐照损伤增强效应判定方法
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Application No.: CN201811347645.7Application Date: 2018-11-13
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Publication No.: CN109521295APublication Date: 2019-03-26
- Inventor: 吕贺 , 李鹏伟 , 孙明 , 张洪伟 , 梅博 , 于庆奎 , 李兴冀 , 杨剑群
- Applicant: 中国空间技术研究院
- Applicant Address: 北京市海淀区友谊路104号
- Assignee: 中国空间技术研究院
- Current Assignee: 中国空间技术研究院
- Current Assignee Address: 北京市海淀区友谊路104号
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 张晓飞
- Main IPC: G01R31/00
- IPC: G01R31/00 ; G01N1/44

Abstract:
一种低剂量率辐照损伤增强效应判定方法,包括步骤:1)获得所述待测试对象辐照前的电参数测试结果;2)制作成多个辐照试验线路板,分别进行不同剂量率、不同偏置的电离辐照试验,获得多个辐照剂量点的电参数测试结果;3)确定所述待测试对象的电参数退化量的比值和待测试对象的电参数退化可靠性影响因子;4)根据电参数退化量的比值和电参数退化可靠性影响因子,判定所述待测试对象是否具有低剂量率辐照损伤增强效应。本发明通过分别进行高低剂量率辐照试验,获得高低剂量率的对比数据,考虑元器件参数退化因子及低剂量率辐射损伤增强因子的大小,获得宇航用元器件是否具有低剂量率辐照损伤增强效应的评判结果。
Public/Granted literature
- CN109521295B 一种低剂量率辐照损伤增强效应判定方法 Public/Granted day:2021-04-13
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