Invention Grant
- Patent Title: 一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法
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Application No.: CN201811583297.3Application Date: 2018-12-24
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Publication No.: CN109827908BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 杨燕杰 , 杨国防 , 邱骏挺 , 赵英俊
- Applicant: 核工业北京地质研究院
- Applicant Address: 北京市朝阳区小关东里10号院
- Assignee: 核工业北京地质研究院
- Current Assignee: 核工业北京地质研究院
- Current Assignee Address: 北京市朝阳区小关东里10号院
- Agency: 核工业专利中心
- Agent 闫兆梅
- Main IPC: G01N21/25
- IPC: G01N21/25

Abstract:
本发明属于信息提取技术领域,具体涉及一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法,包括:步骤一:调整待筛选对象位置;步骤二:光谱数据预处理;步骤三:光谱数据转换为高光谱栅格影像像元数据;步骤四:采集特定波段高光谱栅格影像像元数据;步骤五:计算待测物品质系数H;步骤七:分析待测物品质系数H。本发明通过利用光谱数据处理方法对红富士苹果的腐烂程度进行自动筛选、判别,提高了数据处理速度及信息提取的精度,降低了人为判断的误差。
Public/Granted literature
- CN109827908A 一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法 Public/Granted day:2019-05-31
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