Invention Grant
- Patent Title: 用于对激光源、探测器、光学器件测试的装置及其测试方法
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Application No.: CN201910426387.XApplication Date: 2019-05-22
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Publication No.: CN109946550BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 沈方红 , 申子要 , 高天
- Applicant: 北京中创为南京量子通信技术有限公司
- Applicant Address: 江苏省南京市浦口区江浦街道仁山路1号园区2号楼办公室东侧ER301室
- Assignee: 北京中创为南京量子通信技术有限公司
- Current Assignee: 北京中创为南京量子通信技术有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省南京市浦口区江浦街道仁山路1号园区2号楼办公室东侧ER301室
- Agency: 南京天华专利代理有限责任公司
- Agent 李德溅; 徐冬涛
- Main IPC: G01R31/00
- IPC: G01R31/00 ; G01R31/26 ; G01M11/00

Abstract:
本发明公开了一种用于对激光源、探测器、光学器件测试的装置及其测试方法,该装置包括测试电路,测试电路中的控制器能够与人机交换设备相连接,测试电路中包括能够与单光子探测器设备上的相应端口相连接的时钟驱动器、输入比较器、分光器以对单光子探测器设备进行测试,还包括能对激光源进行测试的激光发射电路、对单光子探测器设备中的单光子APD管以及APD管、PIN管进行响应度测试的相应电路,并能够测试出APD管和PIN管的温度‑响应度曲线、光强‑响应度曲线以及APD管的反向偏置电压‑响应度曲线。本发明的装置及其测试方法能够覆盖现有的常用测试,且能保障测试合格的激光源、探测器、光学器件可靠应用于量子保密通信领域。
Public/Granted literature
- CN109946550A 集激光源、探测器、光学器件测试的装置及其测试方法 Public/Granted day:2019-06-28
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