用于对激光源、探测器、光学器件测试的装置及其测试方法
Abstract:
本发明公开了一种用于对激光源、探测器、光学器件测试的装置及其测试方法,该装置包括测试电路,测试电路中的控制器能够与人机交换设备相连接,测试电路中包括能够与单光子探测器设备上的相应端口相连接的时钟驱动器、输入比较器、分光器以对单光子探测器设备进行测试,还包括能对激光源进行测试的激光发射电路、对单光子探测器设备中的单光子APD管以及APD管、PIN管进行响应度测试的相应电路,并能够测试出APD管和PIN管的温度‑响应度曲线、光强‑响应度曲线以及APD管的反向偏置电压‑响应度曲线。本发明的装置及其测试方法能够覆盖现有的常用测试,且能保障测试合格的激光源、探测器、光学器件可靠应用于量子保密通信领域。
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