Invention Grant
- Patent Title: 一种坏点检测方法、装置及电子设备
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Application No.: CN201910355387.5Application Date: 2019-04-29
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Publication No.: CN110035281BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 周平村
- Applicant: 昆山丘钛微电子科技有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市昆山高新技术产业开发区台虹路3号
- Assignee: 昆山丘钛微电子科技有限公司
- Current Assignee: 昆山丘钛微电子科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市昆山高新技术产业开发区台虹路3号
- Agency: 北京众达德权知识产权代理有限公司
- Agent 刘杰
- Main IPC: H04N17/00
- IPC: H04N17/00
Abstract:
本发明实施例涉及图像检测技术领域，具体而言，涉及一种坏点检测方法、装置及电子设备，该方法通过将原始图像拆分为多个单通道图像并进行标记，然后合并标记后的多个单通道图像获得目标图像，并从目标图像中检测出标记为预设标识的像素作为坏点，如此，能够准确检测出原始图像中的坏点。
Public/Granted literature
- CN110035281A 一种坏点检测方法、装置及电子设备 Public/Granted day:2019-07-19
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