Invention Publication
- Patent Title: 一种半椭球反射面的光学性能综合评价方法
- Patent Title (English): Method for comprehensively evaluating optical performance of semi-ellipsoidal reflecting surface
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Application No.: CN201910318490.2Application Date: 2019-04-19
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Publication No.: CN110118645APublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 吴丽雄 , 王立君 , 刘峰 , 王家伟 , 韦成华
- Applicant: 西北核技术研究所
- Applicant Address: 陕西省西安市灞桥区平峪路28号
- Assignee: 西北核技术研究所
- Current Assignee: 西北核技术研究所
- Current Assignee Address: 陕西省西安市灞桥区平峪路28号
- Agency: 西安智邦专利商标代理有限公司
- Agent 胡乐
- Main IPC: G01M11/02
- IPC: G01M11/02

Abstract:
本发明提出了一种半椭球反射面光学性能综合评价方法。该方法包括整体面形检测和反射率测量;其中整体面形检测主要是在半椭球焦点A、B处分别放置漫透射板和第一相机;经过扩束准直的激光被分束镜分光,分束镜反射光入射至漫透射板,经散射后到达半椭球反射面,由半椭球反射面反射汇聚至第一相机;在分束镜透射光路上与焦点A等光程处摆放第二相机;第二相机、第一相机分别拍摄入射光斑、光斑共轭像;对比入射光斑与其共轭像,根据共轭像失真、模糊程度,对面形精度和表面粗糙度进行评价;反射率测量包括局部反射率测量和总反射率测量。本发明具有检测效率高、实施成本低、易操作、抗干扰、系统全面等优点。
Public/Granted literature
- CN110118645B 一种半椭球反射面的光学性能综合评价方法 Public/Granted day:2021-11-05
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