Invention Publication
- Patent Title: 一种用于测量源端热态反射系数的测量方法及测量装置
- Patent Title (English): Measurement method and measurement device for measuring source end thermal state reflection coefficient
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Application No.: CN201910438318.0Application Date: 2019-05-24
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Publication No.: CN110118895APublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 刘挺 , 杨绪军
- Applicant: 北京无线电计量测试研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区142信箱408分箱
- Assignee: 北京无线电计量测试研究所
- Current Assignee: 北京无线电计量测试研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区142信箱408分箱
- Agency: 北京正理专利代理有限公司
- Agent 付生辉
- Main IPC: G01R27/06
- IPC: G01R27/06

Abstract:
本发明公开一种用于测量源端热态反射系数的测量方法,所述测量方法包括:S1、利用矢量网络分析仪对负载调配系统的阻抗进行定标;S2、将所述负载调配系统接入功率源和负载之间;S3、打开所述功率源中的信号源,调节所述负载调配系统,使所述负载调配系统与所述功率源中的功率放大器达到完全匹配状态,获取完全匹配状态下的所述负载调配系统中双定向耦合器输入端口的输入阻抗;S4、基于阻抗匹配原理,计算源端热态反射系数。
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