Invention Grant
- Patent Title: 地基微波辐射计系统及其定标方法
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Application No.: CN201910513346.4Application Date: 2019-06-14
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Publication No.: CN110119001BPublication Date: 2024-04-30
- Inventor: 傅平 , 付平 , 胡勇
- Applicant: 上海清江实业有限公司
- Applicant Address: 上海市闵行区中春路7001号B-505室
- Assignee: 上海清江实业有限公司
- Current Assignee: 上海清江实业有限公司
- Current Assignee Address: 上海市闵行区中春路7001号B-505室
- Agency: 合肥山高专利代理事务所
- Agent 刘庆
- Main IPC: G01W1/00
- IPC: G01W1/00 ; G01W1/18
Abstract:
本发明公开了一种地基微波辐射计系统及其定标方法，通过高温黑体和制冷吸收负载作为两点定标源进行定标，取代传统的外部常温定标源和接收机内部开关噪声源的两点定标，无需高精度温控和定期外部标定，也能获得高精度的定标。
Public/Granted literature
- CN110119001A 地基微波辐射计系统及其定标方法 Public/Granted day:2019-08-13
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