Invention Publication
CN110120382A 半导体器件及形成方法
无效 - 驳回
- Patent Title: 半导体器件及形成方法
- Patent Title (English): Semiconductor device and forming method
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Application No.: CN201910435349.0Application Date: 2019-05-23
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Publication No.: CN110120382APublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 刘冲 , 曹秀
- Applicant: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Agency: 上海思微知识产权代理事务所
- Agent 屈蘅
- Main IPC: H01L23/538
- IPC: H01L23/538 ; H01L21/768

Abstract:
本发明提供了一种半导体器件及形成方法,所述半导体器件包括:半导体基底、介电质层以及导电插塞;所述介电质层位于所述半导体基底上,所述介电质层包括掺杂物,沿远离所述半导体基底表面的方向,所述掺杂物在所述介电质层中的总掺杂浓度逐渐降低,所述介电质层中形成有暴露所述导电结构的通孔,所述导电插塞填充所述通孔。本发明提供的半导体器件中介电质层中掺杂物的总掺杂浓度沿远离所述半导体基底的方向逐渐降低,由于掺杂浓度较大的介电质层更容易被刻蚀去除,从而在刻蚀介电质层形成通孔时,随着刻蚀深度增加,刻蚀速率不会明显降低,从而可以改善通孔的底部形貌,形成符合要求的通孔,进而改善半导体器件性能。
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