Invention Grant
- Patent Title: 检测设备以及检测系统
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Application No.: CN201910446828.2Application Date: 2019-05-27
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Publication No.: CN110539719BPublication Date: 2022-02-11
- Inventor: 山本光一 , 藤浪一友 , 宫本博史 , 西崎良平 , 柳田曜 , 山田邦彦
- Applicant: 矢崎总业株式会社
- Applicant Address: 日本东京
- Assignee: 矢崎总业株式会社
- Current Assignee: 矢崎总业株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京
- Agency: 北京奉思知识产权代理有限公司
- Agent 邹轶鲛; 石红艳
- Priority: 2018-101233 20180528 JP
- Main IPC: B60R22/48
- IPC: B60R22/48 ; B60R16/023

Abstract:
提供能够提升检测精度的检测设备以及检测系统。开关部(22)根据检测对象的状态而切换为将环形天线(21)的增益降低的增益降低状态或不将环形天线(21)的增益降低的增益非降低状态。开关部(22)在电波的波长为λ时,具有用于在从第1电路端子(23a)起沿环形天线(21)的第1延伸方向到离开λ/8的位置为止的环形天线(21)上的范围(K1)内降低环形天线(21)的增益的开关端子(22a、22b)。开关部(22)还具有用于在从第2电路端子(23b)起沿环形天线(21)的第2延伸方向到离开λ/8的位置为止的环形天线(21)上的范围(K2)内降低环形天线(21)的增益的开关端子(22d、22e)。
Public/Granted literature
- CN110539719A 检测设备以及检测系统 Public/Granted day:2019-12-06
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