Invention Grant
- Patent Title: 一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法
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Application No.: CN201911341040.1Application Date: 2019-12-23
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Publication No.: CN110940260BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 刘忠丽 , 姜莉琴 , 梁亚萍 , 田雍容 , 李炳东 , 赵静 , 曹征 , 李强 , 杨怡欣 , 刘旺 , 郭瑞霞
- Applicant: 西安空间无线电技术研究所
- Applicant Address: 陕西省西安市长安区西街150号
- Assignee: 西安空间无线电技术研究所
- Current Assignee: 西安空间无线电技术研究所
- Current Assignee Address: 陕西省西安市长安区西街150号
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 张丽娜
- Main IPC: G01B5/28
- IPC: G01B5/28
Abstract:
本发明涉及一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法，属于栅阵列器件平面度检测技术领域。本发明的方法通过对器件焊接端子的高度进行梳理，确定基准测量尺寸，根据对平面度的测量要求确定测量尺寸，通过工装采用叠加的方法进行测量，该测量方法：操作简单易行、测量有效到位、可避免器件引腿受损，并解决了由于器件焊接端子平面度差导致的焊接不良问题。
Public/Granted literature
- CN110940260A 一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法 Public/Granted day:2020-03-31
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