Invention Grant
- Patent Title: 打印头清洁元件的校准
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Application No.: CN201780094381.6Application Date: 2017-10-27
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Publication No.: CN111065522BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: F·塔里达蒂拉多 , M·卢鹏纳瓦佐 , A·米尔戈巴巴
- Applicant: 惠普发展公司 , 有限责任合伙企业
- Applicant Address: 美国德克萨斯州
- Assignee: 惠普发展公司,有限责任合伙企业
- Current Assignee: 惠普发展公司,有限责任合伙企业
- Current Assignee Address: 美国德克萨斯州
- Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
- Agent 张凌苗; 陈岚
- International Application: PCT/US2017/058840 2017.10.27
- International Announcement: WO2019/083547 EN 2019.05.02
- Date entered country: 2020-02-27
- Main IPC: B41J2/165
- IPC: B41J2/165

Abstract:
本文中描述的某些示例涉及校准用于打印头的清洁元件。打印介质传感器与打印头的喷嘴平面对齐,以检测打印作业期间打印介质从喷嘴平面的位移。发生了清洁元件和打印头之间的相对移动。在该移动期间,检测打印介质传感器的激活。基于检测到的激活存储清洁元件的参考位置。
Public/Granted literature
- CN111065522A 打印头清洁元件的校准 Public/Granted day:2020-04-24
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IPC分类: