本申请公开了一种数据处理方法、数据处理装置、终端设备及存储介质，用于集成电路版图的寄生参数处理。数据处理方法包括读取工艺表格、提取表格和标准表格，所述提取表格包括由第一寄生参数提取工具从所述集成电路版图提取的第一工艺参数和第一寄生参数，所述工艺表格包括第二工艺参数，所述标准表格包括由第二寄生参数提取工具提取的第三工艺参数和第二寄生参数确认所述第一工艺参数与所述第二工艺参数相同，确认所述第一工艺参数与所述第三工艺参数相同，输出所述第二寄生参数，计算对应的所述第一寄生参数与输出的所述第二寄生参数之间误差，输出所述误差。