Invention Publication
- Patent Title: 用于激光净成形中结合有限元实现应力原位测量的基板
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Application No.: CN202010425688.3Application Date: 2020-05-19
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Publication No.: CN111619117APublication Date: 2020-09-04
- Inventor: 谢惠民 , 李加强 , 石文雄 , 刘胜
- Applicant: 清华大学 , 武汉大学
- Applicant Address: 北京市海淀区清华园1号
- Assignee: 清华大学,武汉大学
- Current Assignee: 清华大学,武汉大学
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清华园1号
- Agency: 北京清亦华知识产权代理事务所
- Agent 罗文群
- Main IPC: B29C64/386
- IPC: B29C64/386 ; B33Y50/00

Abstract:
本发明涉及一种用于激光净成形中结合有限元实现应力原位测量的基板,属于增材制造中原位监测技术领域。该基板包括基板本体、镜面反射片和反射片定位螺栓;基板本体的四周加工有基板固定翼,基板本体的上表面为制造面,下表面为测量面,测量面上加工有螺纹点阵孔,反射片定位螺栓与测量面螺纹点阵孔相互配合,镜面反射片固定在反射片定位螺栓的端部。本发明的基板中,使用镜面反射片代替已有技术中的基板测量面的抛光处理,可以根据测量需要调整基板变形监测的区域。将基板上制造的零件切离基板后、原位监测前,只要重新更换镜面反射片即可满足相干梯度测量系统的要求,节约了经济成本和时间成本。
Public/Granted literature
- CN111619117B 用于激光净成形中结合有限元实现应力原位测量的基板 Public/Granted day:2021-04-13
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