Invention Grant
CN112359421B 一种反向气流法制备层状铋氧硒半导体薄膜的方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种反向气流法制备层状铋氧硒半导体薄膜的方法
-
Application No.: CN202110033688.3Application Date: 2021-01-12
-
Publication No.: CN112359421BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 杨夕 , 朱梦剑 , 朱志宏
- Applicant: 中国人民解放军国防科技大学
- Applicant Address: 湖南省长沙市开福区德雅路109号
- Assignee: 中国人民解放军国防科技大学
- Current Assignee: 中国人民解放军国防科技大学
- Current Assignee Address: 湖南省长沙市开福区德雅路109号
- Agency: 长沙国科天河知识产权代理有限公司
- Agent 邱轶
- Main IPC: C23C24/08
- IPC: C23C24/08 ; C30B29/46 ; C30B23/02

Abstract:
本发明提出了一种反向气流法制备层状铋氧硒半导体薄膜的方法,属于半导体材料技术领域,包括如下步骤:以铋氧硒固体粉末为生长原材料,将所述生长原材料置于管式炉内的一端,基底置于管式炉内的另一端;先向管式炉内通入反向气流并对管式炉内进行加热,达到沉积温度后,在所述沉积温度下保温;保温结束后,再转为向管式炉内通入正向气流以使所述生长原材料在所述基底上沉积生长,沉积完毕后,得到层状铋氧硒半导体薄膜。本发明提供了一种采用正反向气流可控制备大面积Bi2O2Se二维半导体的方法,该方法简单易操作,成本低廉,所得薄膜面积大质量高,在二维半导体领域具有广阔的应用前景。
Public/Granted literature
- CN112359421A 一种反向气流法制备层状铋氧硒半导体薄膜的方法 Public/Granted day:2021-02-12
Information query
IPC分类: