Invention Grant
- Patent Title: 光学装置和光学装置测试方法
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Application No.: CN202011561451.4Application Date: 2020-12-25
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Publication No.: CN113340808BPublication Date: 2023-10-10
- Inventor: 杉山昌树
- Applicant: 富士通光器件株式会社
- Applicant Address: 日本神奈川县
- Assignee: 富士通光器件株式会社
- Current Assignee: 富士通光器件株式会社
- Current Assignee Address: 日本神奈川县
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Agent 刘久亮; 黄纶伟
- Main IPC: G01N21/01
- IPC: G01N21/01 ; G02B27/28 ; G02B27/42

Abstract:
光学装置和光学装置测试方法。一种光学装置,该光学装置包括光电路和光学连接到光电路的测试电路。测试电路包括:第一光栅耦合器,其被配置为接收测试光;第二光栅耦合器,其被配置为输出通过了第一光栅耦合器的测试光作为参考光;以及第一分支耦合器,其被连接到第一光栅耦合器的输出。第一分支耦合器包括连接到光电路的输入并且被配置为将来自第一光栅耦合器的测试光分支并输出到光电路的第一输出。此外,第一分支耦合器包括连接到第二光栅耦合器的输入并且被配置为将来自第一光栅耦合器的测试光分支并输出到第二光栅耦合器的第二输出。
Public/Granted literature
- CN113340808A 光学装置和光学装置测试方法 Public/Granted day:2021-09-03
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