Invention Grant
- Patent Title: 一种适用于无线MCU的高性能锁相环及其频率的校正方法
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Application No.: CN202111148181.9Application Date: 2021-09-29
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Publication No.: CN113904681BPublication Date: 2022-09-23
- Inventor: 张子三 , 丁晓兵 , 丰思远 , 孙双豪 , 李春林
- Applicant: 上海芯旺微电子技术有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区龙东大道3000号张江集电港1幢9楼B区906B室
- Assignee: 上海芯旺微电子技术有限公司
- Current Assignee: 上海芯旺微电子技术股份有限公司
- Current Assignee Address: 200120 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区龙东大道3000号5幢202室
- Agency: 上海唯智赢专利代理事务所
- Agent 王圣
- Main IPC: H03L7/085
- IPC: H03L7/085 ; H03L7/089 ; H03L7/099 ; H03L7/18

Abstract:
本发明涉及一种适用于无线MCU的高性能锁相环及其频率的校正方法,属于振荡器技术领域。其特征在于:包括鉴频鉴相器、电荷泵、环路滤波器、压控/数控振荡器、分频器、LDO、SPVT检测电路、寄存器;其中鉴频鉴相器、电荷泵、环路滤波器、压控/数控振荡器、分频器、鉴频鉴相器依次连接,LDO分为数字LDO和低噪声高电源抑制比LDO,低噪声高电源抑制比LDO与压控/数控振荡器连接,数字LDO与其他部件连接,SPVT检测电路与寄存器连接,用于锁相环第一次使用前、每次上电时及正常使用时的校正,以得到低相位噪声高精度时钟频率。本发明降低了锁相环锁定的难度、缩短了锁相环锁定时间、尤其适用于无线MCU。
Public/Granted literature
- CN113904681A 一种适用于无线MCU的高性能锁相环及其频率的校正方法 Public/Granted day:2022-01-07
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