Invention Grant
- Patent Title: 芯片托盘套件及芯片测试设备
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Application No.: CN202011205343.3Application Date: 2020-11-02
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Publication No.: CN114441928BPublication Date: 2025-04-25
- Inventor: 蔡振龙 , 基因·罗森塔尔
- Applicant: 第一检测有限公司
- Applicant Address: 美国加利福尼亚州
- Assignee: 第一检测有限公司
- Current Assignee: 第一检测有限公司
- Current Assignee Address: 美国加利福尼亚州
- Agency: 隆天知识产权代理有限公司
- Agent 聂慧荃; 闫华
- Main IPC: G01R31/28
- IPC: G01R31/28 ; G01R1/04
Abstract:
本发明提供一种芯片托盘套件及芯片测试设备。芯片测试设备包含芯片托盘套件。芯片托盘套件包含托盘、多个芯片固定件及多个辅助插入件，托盘具有多个托盘穿孔，多个芯片固定件可拆卸固定设置于托盘，且各个芯片固定件位于各个托盘穿孔中，各个辅助插入件可拆卸地固定设置于各个芯片固定件的一侧，且各个辅助插入件的一部分位于各个芯片固定件的固定穿孔中，而各个辅助插入件能限制位于芯片固定件的芯片容槽中的芯片的活动范围。
Public/Granted literature
- CN114441928A 芯片托盘套件及芯片测试设备 Public/Granted day:2022-05-06
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