Invention Grant
- Patent Title: 对象检测方法和系统
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Application No.: CN202011308374.1Application Date: 2020-11-19
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Publication No.: CN114518607BPublication Date: 2025-04-04
- Inventor: 阮明 , 邓艳丽 , 朱国平 , 明申金 , 邹伟 , 苗齐田
- Applicant: 同方威视技术股份有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- Assignee: 同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee: 同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- Agency: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
- Agent 赵秀芹
- Main IPC: G01V5/22
- IPC: G01V5/22 ; G01N23/22
Abstract:
本申请实施例提供了一种对象检测方法和系统。对象检测方法，包括：获取待检测对象在被中子束照射的情况下放射出的伽马射线的射线特征信息；基于所述伽马射线的射线特征信息得到所述待检测对象的伽马射线能谱图和核素空间分布图；根据所述伽马射线能谱图和所述核素空间分布图确定所述待检测对象的检测结果。根据本申请实施例的对象检测方法，可以提高检测结果的准确性。
Public/Granted literature
- CN114518607A 对象检测方法和系统 Public/Granted day:2022-05-20
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