Invention Grant
- Patent Title: 用于半导体电子材料辐照效应研究的装置
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Application No.: CN202210714651.1Application Date: 2022-06-23
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Publication No.: CN114792575BPublication Date: 2022-09-23
- Inventor: 陈平章
- Applicant: 邳州市安达电子有限公司
- Applicant Address: 江苏省徐州市邳州市高新技术产业开发区太湖大道西侧、富美路南侧
- Assignee: 邳州市安达电子有限公司
- Current Assignee: 邳州市安达电子有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省徐州市邳州市高新技术产业开发区太湖大道西侧、富美路南侧
- Agency: 苏州国卓知识产权代理有限公司
- Agent 薛芳芳
- Main IPC: G21K5/10
- IPC: G21K5/10

Abstract:
本发明公开了用于半导体电子材料辐照效应研究的装置,包括辐照箱,所述辐照箱上端面铰接有箱盖,辐照箱内表面侧壁上固定连接有辐射源,且辐照箱内固定安装有均布机构,所述均布机构上设置有防护组件,所述均布机构包括电机、底座、伸缩杆、收纳台、C型半圆板,所述辐照箱内表面底部中心处固定连接有电机,在收纳台转动时,限位块伸入平圆槽的设计能够使收纳台较为稳定的转动,圆形半导体电子材料完全伸入C型半圆板内后C型弧板失去圆形半导体电子材料的限位而在传动弹簧的作用下复位,C型弧板从而得以对圆形半导体电子材料进行限位,使在圆形半导体电子材料转动过程中难以脱离C型半圆板,从而确保该研究顺利安全的进行。
Public/Granted literature
- CN114792575A 用于半导体电子材料辐照效应研究的装置 Public/Granted day:2022-07-26
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