Invention Publication
- Patent Title: 截断伪影校正方法、CT图像校正方法、设备和介质
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Application No.: CN202210480772.4Application Date: 2022-05-05
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Publication No.: CN114913259APublication Date: 2022-08-16
- Inventor: 张峥
- Applicant: 上海联影医疗科技股份有限公司
- Applicant Address: 上海市嘉定区城北路2258号
- Assignee: 上海联影医疗科技股份有限公司
- Current Assignee: 上海联影医疗科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 上海市嘉定区城北路2258号
- Agency: 北京华进京联知识产权代理有限公司
- Agent 朱五云
- Main IPC: G06T11/00
- IPC: G06T11/00

Abstract:
本申请涉及一种截断伪影校正方法、CT图像校正方法、设备和介质。该截断伪影校正方法包括:根据扫描对象的原始投影数据,获取截断伪影数据;截断伪影数据为原始投影数据中存在截断的投影视角下各通道的投影数据;通过第一校正网络对截断伪影数据进行校正,得到扩充投影数据;根据原始投影数据和扩充投影数据,生成扫描对象的医学图像。该方法是直接在数据域中对投影数据进行分析和校正,使得校正后的扩充投影数据更趋近于真实投影数据。进一步地,在数据域中进行截断伪影校正时,只需对数据域中存在截断的投影视角下各通道的投影数据进行校正,减小数据计算量的同时,提高了截断伪影的校正速度,从而获取到扫描对象完整的医学图像。
Public/Granted literature
- CN114913259B 截断伪影校正方法、CT图像校正方法、设备和介质 Public/Granted day:2025-04-25
Information query
IPC分类:
G | 物理 |
G06 | 计算;推算或计数 |
G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
G06T11/00 | 2D〔二维〕图像的生成 |