Invention Grant
- Patent Title: 一种智能开关的检修方法、系统、存储介质和电子设备
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Application No.: CN202110260515.5Application Date: 2021-03-10
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Publication No.: CN115081497BPublication Date: 2025-04-01
- Inventor: 冷春田 , 于义广 , 李乐乐 , 蒋叶娣 , 徐艳 , 张伟 , 张小龙
- Applicant: 上海宏力达信息技术股份有限公司
- Applicant Address: 上海市松江区九亭中心路1158号11幢101、401室
- Assignee: 上海宏力达信息技术股份有限公司
- Current Assignee: 上海宏力达信息技术股份有限公司
- Current Assignee Address: 上海市松江区九亭中心路1158号11幢101、401室
- Agency: 北京中盛智产知识产权代理事务所
- Agent 季茂源
- Main IPC: G06F18/24
- IPC: G06F18/24 ; G06F18/23 ; G01R31/327 ; G05B23/02

Abstract:
一种智能开关的检修方法、系统、存储介质和电子设备,该方法包括:基于智能开关的历史数据和实时数据以及预设的智能决策表构建粗糙集;根据所述粗糙集确定最小约简;基于最小约简确定当所述智能开关处于故障状态时所述智能开关的各个参数的数值范围,并确定所述智能开关当前的故障状态。本发明实施方式提供的智能开关检修方法,能够根据智能开关检测的不完整、不确定、不准确的数据,准确的确定所述智能开关当前是否处于故障状态,进一步能使得在智能开关实时获取的数据不精确、不确定和不完全的情况下还能够获得准确的确定智能开关是否处于故障状态,当智能开关处于故障状态下时,技术人员可以有针对性的检修,保证了电网的安全顺畅运行。
Public/Granted literature
- CN115081497A 一种智能开关的检修方法、系统、存储介质和电子设备 Public/Granted day:2022-09-20
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