本发明公开了一种缺陷检测系统及缺陷检测方法，包括光线输出模块、光线调节模块、探测模块和处理控制模块；光线输出模块用于输出探测光束；光线调节模块位于探测光束的传输路径上，用于调节探测光束入射至待探测物，待探测物反射探测光束形成成像光束，成像光束携带探测物的缺陷信息；探测模块位于成像光束的传播路径上，形成探测图像；处理控制模块与探测模块连接，用于根据探测图像确定待探测物的缺陷信息；处理控制模块还与光线调节模块连接，用于根据探测需求选择照明模式，照明模式包括明场照明模式、暗场照明模式以及明场暗场混合照明模式。处理控制模块通过对光线调节模块的调节，实现探测光束完成不同的照明模式，满足更多样化的需求。