Invention Publication
- Patent Title: 一种大规模检测CCM中质子交换膜膜损伤的测试方法
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Application No.: CN202310389367.6Application Date: 2023-04-12
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Publication No.: CN116465961APublication Date: 2023-07-21
- Inventor: 潘牧 , 张慧 , 官树猛 , 刘珍斌 , 周芬
- Applicant: 武汉理工大学
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
- Assignee: 武汉理工大学
- Current Assignee: 武汉理工大学
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
- Agency: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司
- Agent 闭钊
- Main IPC: G01N27/92
- IPC: G01N27/92

Abstract:
本发明涉及一种大规模检测CCM中质子交换膜膜损伤的测试方法,该方法具体过程如下:首先将待测样品置于20‑110℃真空环境中干燥0.5‑48h,然后置于上下电极之间并设置好短路保护电流,接着通电并按照0.1‑5V/s的升压速率进行测试,直至样品被击穿出现短路电流,反复测试多次后采用Weibull分布进行统计获取击穿电压值,据此评价质子交换膜的损伤情况。本发明具有测试方法简单、效率高、结果准确并且可重复等优点,非常适合大规模CCM损伤检测,为燃料电池行业提供了一种全新的检测手段和方法。
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