Invention Publication
- Patent Title: 针对多型号NFC的功能检验方法、装置、设备及介质
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Application No.: CN202410071471.5Application Date: 2024-01-17
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Publication No.: CN118054867APublication Date: 2024-05-17
- Inventor: 杜哲康 , 沈智旺 , 廖新成
- Applicant: 无锡宇宁智能科技有限公司
- Applicant Address: 江苏省无锡市惠山经济开发区堰新路311号(经营场所:无锡市惠山区行知路35号慧谷创业园C区52)
- Assignee: 无锡宇宁智能科技有限公司
- Current Assignee: 无锡宇宁智能科技有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省无锡市惠山经济开发区堰新路311号(经营场所:无锡市惠山区行知路35号慧谷创业园C区52)
- Agency: 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
- Agent 张睿
- Main IPC: H04B17/15
- IPC: H04B17/15 ; H04B17/29 ; H04L41/0806

Abstract:
本申请公开了一种针对多型号NFC的功能检验方法、装置、设备及介质,涉及功能测试技术领域,方法包括:实时监测测试主板的工作状态,其中,工作状态包括芯片插入状态和芯片拔出状态;检测到工作状态由芯片拔出状态转换为芯片插入状态时,获取测试主板中插入的NFC芯片的型号信息;根据型号信息对NFC芯片进行初始化,并对完成初始化后的NFC芯片进行功能检验。采用本申请技术方案能够通过在测试主板上热插拔NFC芯片以达到快速测试NFC芯片的效果,无需人工筛选同一型号的NFC芯片在测试主板上进行测试,也无需在每一次插入新的NFC芯片时对测试主板进行重启,提高了针对多型号NFC的功能检验的测试效率和便捷性。
Public/Granted literature
- CN118054867B 针对多型号NFC的功能检验方法、装置、设备及介质 Public/Granted day:2025-04-25
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