Invention Publication
- Patent Title: 一种复合绝缘子老化评估装置及方法
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Application No.: CN202410796643.5Application Date: 2024-06-20
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Publication No.: CN118362849APublication Date: 2024-07-19
- Inventor: 尹芳辉 , 李会杰
- Applicant: 清华大学深圳国际研究生院
- Applicant Address: 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋二楼
- Assignee: 清华大学深圳国际研究生院
- Current Assignee: 清华大学深圳国际研究生院
- Current Assignee Address: 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋二楼
- Agency: 深圳新创友知识产权代理有限公司
- Agent 王震宇
- Main IPC: G01R31/12
- IPC: G01R31/12 ; G01R31/20 ; G01R27/26 ; G01R19/00

Abstract:
本发明提供一种复合绝缘子老化评估装置及方法,该装置包括电导损耗测试模块、介电损耗测试模块以及计算分析单元,所述电导损耗测试模块用于测量复合绝缘子样品的电导损耗参数,所述介电损耗测试模块用于测量复合绝缘子样品的介电损耗参数,所述计算分析单元用于根据所述电导损耗参数和所述介电损耗参数计算分析复合绝缘子样品的老化程度。本发明的复合绝缘子老化评估装置及方法能够实现对复合绝缘子老化程度的快速、准确、直观的评估,具有操作简便、结果可靠、无损检测等优点,为绝缘子老化状态评估和电力系统维护提供了有力的技术支持。
Public/Granted literature
- CN118362849B 一种复合绝缘子老化评估装置及方法 Public/Granted day:2024-08-16
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