本发明提供一种液晶相控阵天线自检方法，包括以下步骤：S1：预设液晶相控阵天线通道的工作状态，所述工作状态包括发射状态和接收状态；S2：处于发射状态的通道发射信号，处于接收状态的通道接收所述信号；S3：比较发射和接收的信号，基于比较结果，判断所述液晶相控阵天线性能；若比较结果不一致，则液晶相控阵天线性能异常；S5：切换各通道的工作状态，重复步骤S2‑S3，遍历检测所有通道，获得液晶相控阵天线自检结果；S6：基于所述自检结果，进行异常溯源并生成自检报告。本发明的自检方法，能实现对液晶相控阵天线的全面检测。