本申请提供了一种测试电路以及测试装置，涉及半导体器件技术领域，其中，该测试电路包括：脉冲控制电路以及直流偏置电路；其中，直流偏置电路包括：串联的多级电感，从多级电感中第一级电感的一端为直流偏置电路的输出端，多级电感中最后一级电感的另一端为直流偏置电路的输入端；脉冲控制电路的电源端用于连接预设直流电源，脉冲控制电路的输入端用于连接预设脉冲控制端，以接收脉冲测试信号，脉冲控制电路的输出端连接直流偏置电路的输入端，直流偏置电路的输出端用于连接待测射频放大器芯片的预设电源端。本申请提供的测试电路降低温度变化对待测射频放大器芯片的影响，提高对待测射频放大器芯片测试结果的准确性。