Invention Publication
- Patent Title: 一种测试控制方法、装置、电子设备及存储介质
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Application No.: CN202412000425.9Application Date: 2024-12-31
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Publication No.: CN119861628APublication Date: 2025-04-22
- Inventor: 施敏捷 , 刘憧盈 , 王中照
- Applicant: 苏州精控能源科技股份有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市高新区泰山路2号28幢西
- Assignee: 苏州精控能源科技股份有限公司
- Current Assignee: 苏州精控能源科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市高新区泰山路2号28幢西
- Agency: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司
- Agent 张韬
- Main IPC: G05B19/042
- IPC: G05B19/042 ; G01D21/00

Abstract:
本发明涉及测试领域,具体涉及一种测试控制方法、装置、电子设备及存储介质。本申请接收测试运行指令后,上位机能迅速响应,启动测试客户端精准抓取涵盖下位机与硬件模块的综合测试任务,无需人工繁琐调配,极大提升了启动效率。针对下位机与硬件模块同步开展测试,打破了传统逐次测试的低效局限,短时间内即可覆盖大量样本。再者,自动化测试流程大幅削减了人力投入,降低了人为失误风险,物料损耗也随之减少。最后,基于下位机和硬件模块的测试结果快速生成的报告,为产品质量评估提供有力依据,全方位满足了大批量产品下线时对稳定、快捷、高效且可靠测试质量的迫切需求。
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