Invention Patent
- Patent Title: 粒子状物質検出装置
- Patent Title (English): Particulate matter detection device
- Patent Title (中): 颗粒物检测设备
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Application No.: JP2012070782Application Date: 2012-03-27
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Publication No.: JP5924669B2Publication Date: 2016-05-25
- Inventor: 三木 雅信 , 岩間 恵三 , 岡山 竜也 , 近藤 厚男 , 櫻井 隆行 , 西川 斎
- Applicant: 本田技研工業株式会社 , 日本碍子株式会社
- Applicant Address: 東京都港区南青山二丁目1番1号
- Assignee: 本田技研工業株式会社,日本碍子株式会社
- Current Assignee: 本田技研工業株式会社,日本碍子株式会社
- Current Assignee Address: 東京都港区南青山二丁目1番1号
- Agent 正林 真之; 林 一好; 星野 寛明
- Main IPC: F01N3/00
- IPC: F01N3/00 ; F02D45/00 ; G01N27/22
Public/Granted literature
- JP2013205034A Particulate matter detector Public/Granted day:2013-10-07
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