本发明涉及一种测量物体中分辨率<1μm的温度和/或温度分布的方法以及用于执行这种方法的装置，更具体地涉及用于执行这种方法的显微镜。 该方法包括将嵌入在物体上的基质层中的分子温度计应用所述显微镜的光源对所述分子温度计进行光激发，并用所述显微镜的两个光电检测器测量来自所述分子温度计的辐射。 通过所述第一检测器测量第一波长的第一强度，通过所述第二检测器测量第二波长处的第二强度，并计算所述强度的比率并用于以校准曲线确定温度。 所述显微镜是共焦显微镜或受激发射耗尽（STED）显微镜。