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Invention Grant
US08735290B2 Amorphous group III-V semiconductor material and preparation thereof 有权
非晶III-V族半导体材料及其制备方法

  • Patent Title: Amorphous group III-V semiconductor material and preparation thereof
  • Patent Title (中): 非晶III-V族半导体材料及其制备方法
  • Application No.: US12744028
    Application Date: 2008-11-19
  • Publication No.: US08735290B2
    Publication Date: 2014-05-27
  • Inventor: Moshe Einav
  • Applicant: Moshe Einav
  • Applicant Address: IL Herzeliya, Pituach
  • Assignee: Mosaic Crystal Ltd.
  • Current Assignee: Mosaic Crystal Ltd.
  • Current Assignee Address: IL Herzeliya, Pituach
  • Agency: Merchant & Gould P.C.
  • International Application: PCT/IL2008/001519 WO 20081119
  • International Announcement: WO2009/066286 WO 20090528
  • Main IPC: H01L21/8252
  • IPC: H01L21/8252 ;  H01L21/18 ;  H01L27/10
Amorphous group III-V semiconductor material and preparation thereof
Abstract:
A reactive evaporation method for forming a group III-V amorphous material attached to a substrate includes subjecting the substrate to an ambient pressure of no greater than 0.01 Pa, and introducing active group-V matter to the surface of the substrate at a working pressure of between 0.05 Pa and 2.5 Pa, and group III metal vapor, until an amorphous group III-V material layer is formed on the surface.
Abstract(Chinese):

用于形成附着到基板上的III-V族非晶材料的反应蒸发方法包括使基板经受不大于0.01Pa的环境压力，并将活性基团-V物质引入基板的表面，工作压力为 在0.05Pa和2.5Pa之间，以及III族金属蒸汽，直到在表面上形成非晶III-V族材料层。

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Espacenet
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L21/00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造（由预制电组件组成的组装件的制造入H05K3/00，H05K13/00）
H01L21/77 ..在公共衬底中或上面形成的由许多固态元件或集成电路组成的器件的制造或处理（电可编程只读存储器或其多步骤的制造方法入H01L27/115）
H01L21/78 ...把衬底连续地分成多个独立的器件（改变表面物理特性或者半导体形状的切割入H01L21/304）
H01L21/82 ....制造器件，例如每一个由许多元件组成的集成电路
H01L21/8252 .....衬底是半导体的，采用Ⅲ-Ⅴ族工艺（H01L21/8258优先）
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