-
公开(公告)号:WO2011062350A1
公开(公告)日:2011-05-26
申请号:PCT/KR2010/004957
申请日:2010-07-28
Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단 , 우석대학교산학협력단 , 최경달 , 이지광 , 김우석 , 박찬 , 한병욱 , 이세연
CPC classification number: G01R33/1246 , G01N27/82 , G01R19/08
Abstract: 본 발명은 자화손실의 측정을 이용한 초전도 선재의 임계 전류 밀도의 추정방법에 관한 것으로, (a) 상기 초전도 선재에 외부 자장을 인가하는 단계와; (b) 상기 외부 자장의 인가에 따른 상기 초전도 선재의 자화 손실을 측정하는 단계와; (c) 상기 측정된 자화 손실을 정규화하고, 상기 정규화된 자화 손실에 기초하여 상기 초전도 선재의 완전 침투 자장을 산출하는 단계와; (d) 상기 산출된 완전 침투 자장에 기초하여 상기 초전도 선재의 임계 전류 밀도를 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 초전도 선재에 직접 전류를 인가하지 않은 상태에서 적층형 초전도 선재와 같은 병렬형 초전도 선재의 임계 전류 밀도를 측정할 수 있게 된다.
Abstract translation: 本发明涉及一种使用磁化损耗估计来估计超导线的临界电流密度的方法,其中该方法包括以下步骤:(a)将来自外部源的磁场施加到超导线; (b)测量由外部源施加磁场引起的超导线的磁损耗; (c)归一化所测量的磁化损耗,并根据归一化的磁化损耗计算超导线的完全渗透磁场; 和(d)基于在前一步骤中计算的完全渗透磁场计算超导线材的临界电流密度。 因此,当电流不直接施加到超导线时,可以测量平行型超导线如堆叠型超导线的临界电流密度。