存储器装置
    1.
    发明公开
    存储器装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN119724309A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411193618.4

    申请日:2024-08-28

    Abstract: 一种存储器装置包括:内置自测试电路,其被配置为针对多个行地址中的每一个选择第一目标存储体和第二目标存储体,使得多个存储器存储体中的每一个至少一次被选择作为第一目标存储体及第二目标存储体,并且针对多个行地址中的每一个对第一目标存储体及第二目标存储体执行并行测试;比较器,其被配置为比较从第一目标存储体输出的第一数据和从第二目标存储体输出的第二数据,并根据其比较结果输出故障信号;以及内置分析电路,其被配置为响应于故障信号,更新指示多个存储器存储体中的每一个的故障信息的故障存储体表,并且被配置为通过参照故障存储体表来确定缺陷存储体。

    双向波分复用自愈无源光网络

    公开(公告)号:CN1324846C

    公开(公告)日:2007-07-04

    申请号:CN200410090357.X

    申请日:2004-11-04

    Abstract: 公开了一种双向波分复用自愈无源光网络,包括:中央局,用于复用并向第一和第二主光纤传输下行光信号;远程节点,通过所述第一和第二主光纤与所述中央局相连,用于向相应的分布光纤对传输多对下行光信号,通过根据波长对一对输入复用下行光信号进行解复用,获得所述多对下行光信号;以及多个光网络单元,通过所述多对分布光纤与所述远程节点相连,每个所述光网络单元有选择地与相对应的一对分布光纤相连,用于从所选择的分布光纤接收相应的下行光信号。

    具有改进的锁相/解锁检测功能的锁相回路

    公开(公告)号:CN100553148C

    公开(公告)日:2009-10-21

    申请号:CN200410001803.5

    申请日:2004-01-14

    Inventor: 李在勋

    CPC classification number: H03L7/095 H03L7/0891 H04N5/123

    Abstract: 本发明提供一种具改进的相位解锁检测功能的锁相回路(PLL),其以来自阴极射线管监视器(CRT)的同步信号频率产生时钟脉冲信号。该PLL包括:相位频率检测器,其比较同步信号、参考信号的相位和频率并输出上升或下降信号;电荷泵,其输出脉动电流;回路滤波器,其输出控制电压;压控振荡器,其输出时钟脉冲信号;分频器,其分频时钟脉冲信号并输出参考信号;相位解锁检测电路,其检测相位解锁最初产生,输出第一检测信号及内部控制信号;锁相/解锁检测电路,其输出第二检测信号;及输出电路,其逻辑操作第一、二检测信号并输出第三检测信号。所述PLL以对相位解锁最初产生的无延迟快速检测来改进CRT监视器模式切换中的系统稳定性。

    具有改进的锁相/解锁检测功能的锁相回路

    公开(公告)号:CN1520038A

    公开(公告)日:2004-08-11

    申请号:CN200410001803.5

    申请日:2004-01-14

    Inventor: 李在勋

    CPC classification number: H03L7/095 H03L7/0891 H04N5/123

    Abstract: 本发明提供一种具改进的相位解锁检测功能的锁相回路(PLL),其以来自阴极射线管监视器(CRT)的同步信号频率产生时钟脉冲信号。该PLL包括:相位频率检测器,其比较同步信号、参考信号的相位和频率并输出上升或下降信号;电荷泵,其输出脉动电流;回路滤波器,其输出控制电压;压控振荡器,其输出时钟脉冲信号;分频器,其分频时钟脉冲信号并输出参考信号;相位解锁检测电路,其检测相位解锁最初产生,输出第一检测信号及内部控制信号;锁相/解锁检测电路,其输出第二检测信号;及输出电路,其逻辑操作第一、二检测信号并输出第三检测信号。所述PLL以对相位解锁最初产生的无延迟快速检测来改进CRT监视器模式切换中的系统稳定性。

    存储器装置及其测试方法、存储器内置自测试电路

    公开(公告)号:CN114360625A

    公开(公告)日:2022-04-15

    申请号:CN202111175663.3

    申请日:2021-10-09

    Abstract: 用于提高可靠性并减少测试时间的一种测试存储器装置的方法、一种存储器内置自测试(MBIST)电路和一种存储器装置。存储器装置包括多个存储体和MBIST电路。MBIST电路被配置为产生双倍数据速率(DDR)测试图案和并行比特测试(PBT)测试图案以测试存储体。当作为PBT测试或DDR测试的结果检测到缺陷单元时,MBIST电路被配置为执行用于用冗余单元替代缺陷单元的修复操作,并且执行重新测试以验证修复操作。MBIST电路可以被配置为在重新测试期间对包括缺陷单元的一个或多个存储器单元执行DDR测试。

    网络系统和认证方法
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100574244C

    公开(公告)日:2009-12-23

    申请号:CN200610009043.1

    申请日:2006-02-17

    Abstract: 提供了一种用于通过基于光纤的无线电(RoF)链路将无线局域网(W-LAN)和第三代(3G)移动通信网络互通的网络系统以及一种在该网络系统中进行互通时的认证方法。该网络系统包括3G移动通信网络和W-LAN系统。3G移动通信网络包括:语音信号处理网络,其连接到公共交换电话网络(PSTN),用于针对预定移动终端的语音呼叫处理;分组数据网络,用于与预定移动终端进行数据通信;以及终端设备,用于与预定移动终端进行通信。W-LAN系统连接到3G移动通信网络的分组数据网络,以向预定移动通信终端提供W-LAN服务。通过RoF链路、在3G移动通信网络中所包括的多个基站(BTS)中实现W-LAN系统。

    网络系统和认证方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1822561A

    公开(公告)日:2006-08-23

    申请号:CN200610009043.1

    申请日:2006-02-17

    Abstract: 提供了一种用于通过基于光纤的无线电(RoF)链路将无线局域网(W-LAN)和第三代(3G)移动通信网络互通的网络系统以及一种在该网络系统中进行互通时的认证方法。该网络系统包括3G移动通信网络和W-LAN系统。3G移动通信网络包括:语音信号处理网络,其连接到公共交换电话网络(PSTN),用于针对预定移动终端的语音呼叫处理;分组数据网络,用于与预定移动终端进行数据通信;以及终端设备,用于与预定移动终端进行通信。W-LAN系统连接到3G移动通信网络的分组数据网络,以向预定移动通信终端提供W-LAN服务。通过RoF链路、在3G移动通信网络中所包括的多个基站(BTS)中实现W-LAN系统。

Patent Agency Ranking