-
公开(公告)号：CN103513129A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310146384.3
申请日：2013-04-24
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 加藤隆志
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R1/206 , G01R31/31932
Abstract: 本发明涉及一种测试装置，接收高速模式及低速模式的信号，用于测试被测试器件。其具有低速比较仪，能够比上述低速比较仪更高速动作的高速比较仪，和根据上述被测试器件输出的信号转换用上述低速比较仪和上述高速比较仪中的哪个测量上述被测试器件输出的被测量信号的转换部。该测试装置，还可以具有与高速比较仪并列设置的终端电阻器。
-
公开(公告)号：CN105045747A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510159277.3
申请日：2015-04-03
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 加藤隆志
IPC: G06F13/40
CPC classification number: H04B1/0475 , H04L25/022 , H04L25/03885
Abstract: 本发明的目的在于利用简易的构成来补偿基于传送路径的高频的衰减特性的波形的劣化。本发明提供一种补偿电路、信息处理装置、及补偿方法，所述补偿电路连接在传送路径来补偿在传送路径传送的传送信号的损耗，且具备使特性阻抗变化的多个变化点，将通过多个变化点产生的传送时间互不相同的多个反射波重叠于传送信号而对传送信号的波形进行整形。
-
-
公开(公告)号：CN103513129B
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201310146384.3
申请日：2013-04-24
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 加藤隆志
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R1/206 , G01R31/31932
Abstract: 本发明涉及一种测试装置，接收高速模式及低速模式的信号，用于测试被测试器件。其具有低速比较仪，能够比上述低速比较仪更高速动作的高速比较仪，和根据上述被测试器件输出的信号转换用上述低速比较仪和上述高速比较仪中的哪个测量上述被测试器件输出的被测量信号的转换部。该测试装置，还可以具有与高速比较仪并列设置的终端电阻器。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.049 seconds)
