公开(公告)号：CN102159960B

公开(公告)日：2013-03-27

申请号：CN200980136255.8

申请日：2009-09-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 山田达也

IPC: G01R31/3183 ,  G06F11/22

CPC classification number: G01R31/31726 ,  G01R31/31922

Abstract: 本发明提供一种测试装置，其是测试被测试设备的测试装置，包括：主块，其包括产生主周期信号的主周期信号产生部，该主块根据主周期信号而动作；和从块，其包括产生从周期信号的从周期信号产生部，该从块根据从周期信号而动作；主周期信号产生部接收控制信号，再继续产生保持的主周期信号；从周期信号产生部接收控制信号，将从周期信号的相位数据初始化，且再继续产生保持的所述从周期信号。

公开(公告)号：CN102159960A

公开(公告)日：2011-08-17

申请号：CN200980136255.8

申请日：2009-09-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 山田达也

IPC: G01R31/3183 ,  G06F11/22

CPC classification number: G01R31/31726 ,  G01R31/31922

Abstract: 本发明提供一种测试装置，其是测试被测试设备的测试装置，包括：主块，其包括产生主周期信号的主周期信号产生部，该主块根据主周期信号而动作；和从块，其包括产生从周期信号的从周期信号产生部，该从块根据从周期信号而动作；主周期信号产生部接收控制信号，再继续产生保持的主周期信号；从周期信号产生部接收控制信号，将从周期信号的相位数据初始化，且再继续产生保持的所述从周期信号。