测量装置、测量方法和参数设定方法

    公开(公告)号:CN104024828A

    公开(公告)日:2014-09-03

    申请号:CN201280053504.9

    申请日:2012-09-10

    Applicant: 索尼公司

    CPC classification number: A61B5/0075 A61B5/0079 G01N21/474 G01N2021/4761

    Abstract: [问题]提供了一种具有进一步减少尺寸的测量装置、测量方法和参数设定方法。[方案]该测量装置设有:光接收元件,设置在面向待测量区域的位置,所述区域在其中布置有待测量的物体,所述光接收元件使光成像,所述光从待测量区域发送;多个发光元件,布置在所述光接收元件的周界,并输出光以测量待测量的物体;以及反射光学元件,设置在所述发光元件上方,并将从所述发光元件发射的光引导到待测量区域。所述光接收元件的光接收表面以及所述发光元件的光输出表面定位在同一平面上,从所述发光元件发射的光被所述反射光学元件反射,并且从各自发光元件发射的光的中心线基本上穿过待测量区域的中心。

    测量装置、测量方法和参数设定方法

    公开(公告)号:CN104024828B

    公开(公告)日:2017-08-25

    申请号:CN201280053504.9

    申请日:2012-09-10

    Applicant: 索尼公司

    CPC classification number: A61B5/0075 A61B5/0079 G01N21/474 G01N2021/4761

    Abstract: [问题]提供了一种具有进一步减少尺寸的测量装置、测量方法和参数设定方法。[方案]该测量装置设有:光接收元件,设置在面向待测量区域的位置,所述区域在其中布置有待测量的物体,所述光接收元件使光成像,所述光从待测量区域发送;多个发光元件,布置在所述光接收元件的周界,并输出光以测量待测量的物体;以及反射光学元件,设置在所述发光元件上方,并将从所述发光元件发射的光引导到待测量区域。所述光接收元件的光接收表面以及所述发光元件的光输出表面定位在同一平面上,从所述发光元件发射的光被所述反射光学元件反射,并且从各自发光元件发射的光的中心线基本上穿过待测量区域的中心。

    测量装置和测量方法

    公开(公告)号:CN102419314A

    公开(公告)日:2012-04-18

    申请号:CN201110267958.3

    申请日:2011-09-09

    Applicant: 索尼公司

    CPC classification number: G01N21/474

    Abstract: 本发明披露了测量装置和测量方法。一种测量装置,包括:光传感元件,来自其上放置有测量目标的测量目标区域的光在光传感元件上形成图像;以及多个发光元件,设置在光传感元件周围并向测量目标区域辐射光,其中,多个发光元件被设置为相对于测量目标区域的法线倾斜,以使来自每个发光元件的辐射光的中心线穿过测量目标区域的大致中心。

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