公开(公告)号：KR101616114B1

公开(公告)日：2016-04-27

申请号：KR1020150003581

申请日：2015-01-09

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 정환욱 ,  권영우 ,  김기현 ,  서태윤

IPC: G01R27/26 ,  G01R1/067

CPC classification number: G01R27/2617 ,  G01R1/067

Abstract: 본발명은마이크로파대역에서탐침을이용하여기체나액체또는고체상태의피측정물질의투자율과유전율을측정할때 피측정물질이기체상태이거나액체상태또는고체상태인것에관계없이투자율과유전율을정확하고편리하게측정할수 있도록한 기술에관한것이다. 이를위해본 발명은평면형상의동축케이블구조를갖고일측종단부에형성된발산부를통해피측정물질과평면적으로접촉이가능한구조를갖는탐침과, 상기탐침에직류자기장을걸어주기위해상기탐침을사이에두고서로대향지게설치된제1전자석패널및 제2전자석패널을구비한탐침장치; 상기탐침장치를이용하여반사계수를측정하기위한반사계수측정장치; 및상기반사계수측정장치를이용하여측정한반사계수를이용하여피측정물질의유전율과투자율을연산하는연산장치를구비한다.

Abstract translation: 本发明涉及当测量目标材料在气态，液态或固体状态下的磁导率和介电常数被测量时，无论目标材料的状态如何，以准确和方便的方式测量磁导率和介电常数的技术 通过在微波带中使用的探针。 本发明包括：探针装置; 反射系数测量装置; 和计算装置。 探针装置设置有具有平面同轴电缆结构的探针，并且被构造成能够通过形成在一侧的终端部分中的发射单元和第一电磁体面板与第二电磁体面板平面地接触测量目标材料 电磁体面板设置成跨越探针彼此面对用于施加到探针的直流磁场。 反射系数测量装置通过使用探针装置测量反射系数。 计算装置使用由所使用的反射系数测量装置测量的反射系数来计算测量对象材料的介电常数和磁导率。