반응과 분석을 포함한 단일 진단칩의 고감도 신속진단방법
    2.
    发明申请
    반응과 분석을 포함한 단일 진단칩의 고감도 신속진단방법 审中-公开
    单诊断芯片的高灵敏度快速诊断方法,包括反应和分析

    公开(公告)号:WO2018056700A1

    公开(公告)日:2018-03-29

    申请号:PCT/KR2017/010348

    申请日:2017-09-20

    Inventor: 김소연 송환문

    CPC classification number: G01N33/537 G01N33/543

    Abstract: 본 발명은 반응과 분석을 포함한 진단칩을 이용하여 검출 대상 물질을 검출하는 방법으로, 구체적으로는 검출 대상 물질과 상호작용하는 생물학적 검출 물질을 포함하고 졸-겔 스팟이 고정된 검출부를 포함하는 진단칩과 이를 기반으로 검출 대상 물질을 검출하는 방법 또는 시료를 분석하는 방법에 관한 것이다.

    Abstract translation:

    本发明是用于使用含有反应和分析的诊断芯片检测靶物质的方法,具体地,溶胶包含与目标物质 - 凝胶点相互作用的生物材料检测 以及基于诊断芯片分析样本的方法或用于检测检测目标物质的方法。

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