-
公开(公告)号：KR101094796B1
公开(公告)日：2011-12-16
申请号：KR1020090080592
申请日：2009-08-28
Applicant: 한국전자통신연구원
Abstract: 본 발명은 단일급전 빔 조향 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 기생소자를 이용한 단일급전 빔 조향 장치에 관한 것이다.
본 발명에서는 안테나의 복잡도를 줄일 수 있으며, 가격을 저렴하게 할 수 있고, 소형화가 가능한 빔 조향 장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 빔 조향 장치는, 단일 급전 빔 조향 장치에 있어서, 접지 평면상에 유전체가 평판형으로 구성되고, 상기 유전체의 상측면에 상기 단일 급전에 의하여 직접 RF 신호가 여기되는 하나의 능동소자와 상기 능동소자와 일정한 거리를 가지며 대칭적으로 구성된 적어도 2개 이상의 기생소자를 포함하는 유전체기판과, 상기 각 기생소자에 부하되는 리액턴스 값을 각각 제어하기 위한 리액턴스 회로와, 상기 리액턴스 회로의 전압을 제어하기 위한 제어회로와, 상기 능동소자에 상기 단일 급전을 공급하기 위한 급전부를 포함한다.
단일 급전, 빔 조향, 기생소자, 능동소자-
公开(公告)号：KR1020070057644A
公开(公告)日：2007-06-07
申请号：KR1020060072401
申请日：2006-07-31
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/2858
Abstract: A PDT(Power Durability Testing) system and a method of a SAW(Surface Acoustic Wave) filter are provided to reliably estimate the life time of RF(Radio Frequency) passive parts like the SAW filter and a duplexer by using a reliability testing system capable of controlling test temperature with an RTD(Resistance Temperature Detector) sensor. A PDT system of a SAW filter(161) is composed of a signal generating unit(111) generating a continuous wave of an oscillator; a high-power amplifying unit(112) amplifying a signal applied from the signal generating unit, at the power level to be measured; a PDT unit(120) monitoring power applied to the SAW filter by receiving the signal amplified in the high-power amplifying unit and setting a path to monitor the electrical characteristic with a network analyzer(140); a power measuring unit measuring a signal output from the PDT unit; a control unit changing the path to monitor the electrical characteristic of the PDT unit; a network analysis unit analyzing the electrical characteristic of the SAW filter; a reliability testing unit(160) applying predetermined test temperature to the SAW filter and maintaining the applied temperature; a temperature measuring unit(180) measuring the temperature of the SAW filter; a temperature control unit(190) controlling the test temperature applied to the reliability testing unit; and a computing unit(170) controlling the signal generating unit, the power measuring unit, the network analysis unit, the control unit, the temperature control unit, and the temperature measuring unit.
Abstract translation: 提供PDT（电力耐久性测试）系统和SAW（表面声波）滤波器的方法，以通过使用可靠性测试系统来可靠地估计RF（射频）无源部件如SAW滤波器和双工器的寿命 用RTD（电阻温度检测器）传感器控制测试温度。 SAW滤波器（161）的PDT系统由产生振荡器的连续波的信号生成单元（111）构成; 高功率放大单元，以待测量的功率电平放大从信号产生单元施加的信号; PDT单元（120），其通过接收在所述高功率放大单元中放大的信号来监测施加到所述SAW滤波器的功率，并且利用网络分析器（140）设定用于监视所述电特性的路径; 功率测量单元，测量从PDT单元输出的信号; 控制单元改变路径以监视PDT单元的电气特性; 分析SAW滤波器的电特性的网络分析单元; 可靠性测试单元（160）将预定的测试温度施加到SAW滤波器并保持施加的温度; 测量SAW滤波器的温度的温度测量单元（180）; 温度控制单元，控制施加到可靠性测试单元的测试温度; 以及控制信号生成单元，功率测量单元，网络分析单元，控制单元，温度控制单元和温度测量单元的计算单元（170）。
-
公开(公告)号：KR100827368B1
公开(公告)日：2008-05-06
申请号：KR1020060124587
申请日：2006-12-08
Applicant: 한국전자통신연구원
CPC classification number: G01R31/30 , G01R1/045 , G01R21/002
Abstract: A method and a system for testing a withstand voltage are provided to decrease a test time by applying a step-stress scheme on a semiconductor RF(Radio Frequency) passive element. A high power amplifier(120) amplifies a continuous signal which is generated from an input test frequency, to a desired power level. A power meter(140) monitors the power level inputted to a semiconductor RF passive element, and the power level outputted from the semiconductor RF passive element. A network analyzer(160) measures electrical characteristics of the semiconductor RF passive element from the input power level. A control analysis computer(190) raises the test power from a start power level at predetermined steps during a predetermined time interval, monitors electrical characteristics of the semiconductor RF passive element, and sets the test frequency and a maximum test power level. The control analysis computer maintains the test power for a predetermined period and monitors the electrical characteristics of the passive element by using the test frequency.
Abstract translation: 提供了一种用于测试耐压的方法和系统，以通过在半导体RF（射频）无源元件上应用步进应力方案来减少测试时间。 大功率放大器（120）将从输入测试频率产生的连续信号放大到期望的功率电平。 功率计（140）监视输入到半导体RF无源元件的功率电平和从半导体RF无源元件输出的功率电平。 网络分析器（160）根据输入功率电平测量半导体RF无源元件的电特性。 控制分析计算机（190）在预定时间间隔内以预定步骤从起始功率电平提高测试功率，监视半导体RF无源元件的电特性，并设置测试频率和最大测试功率电平。 控制分析计算机将测试功率维持在预定时间段，并通过使用测试频率监视无源元件的电特性。
-
公开(公告)号：KR1020150058847A
公开(公告)日：2015-05-29
申请号：KR1020130142123
申请日：2013-11-21
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: G01R29/08 , G01R31/3183
Abstract: 여러가지이동통신신호의고전력을인가하여다양한 RF 수동부품의고전력에서의내성특성을신뢰성있고정확하게시험할수 있는 RF 수동부품내성시험장치및 방법이개시된다. 본발명에따른 RF 수동부품내성시험장치는고주파변조신호를생성하는신호생성부, 신호생성부에의하여생성된고주파변조신호를증폭함으로써 RF 수동부품에입력하여시험하고자하는고전력신호를생성하는고전력증폭부, 고전력증폭부에의하여생성된고전력신호중 일부를커플링하여상기고전력신호의스펙트럼및 전력을분석하는모니터링부및 상기모니터링부에의하여분석된결과에대응하여상기신호생성부, 고전력증폭부및 모니터링부를제어하는제어부를포함한다.
Abstract translation: 本发明提供一种用于RF无源部件的容差测试的装置和方法，其中应用许多不同的移动电信信号的高功率以可靠且准确的方式在高功率下测试各种RF无源部件的容限特性 。 用于RF无源部件的公差测试的装置包括：信号产生单元，用于产生高频调制信号; 高功率放大单元，用于放大在信号产生单元中产生的高频调制信号，以产生稍后输入到RF无源信号并进行测试的高功率信号; 监测单元，耦合由高功率放大单元产生的高功率信号，分析高功率信号的频谱和电功率; 以及控制单元，用于根据监视单元执行的分析结果控制信号产生单元，大功率放大单元和监视单元。
-
公开(公告)号：KR1020100082295A
公开(公告)日：2010-07-16
申请号：KR1020090080592
申请日：2009-08-28
Applicant: 한국전자통신연구원
Abstract: PURPOSE: A single power feeding beam steering device is provided to execute a free directional control by forming a small sized simple structure by using a parasitic element. CONSTITUTION: A dielectric is formed into s a flat type on the ground plane of a dielectric substrate(140). The dielectric substrate comprises a one active circuit element(110) and at least two parasitic elements(121-124). The active circuit element directly excites a radio frequency signal with a single power feeding to the upper surface of the dielectric. The parasitic elements have a fixed distance from the active circuit element. The parasitic elements are symmetrically composed. A reactance circuit(151-154) respectively controls a reactance value which is loaded in each parasitic element. A control circuit(160) controls the voltage of the reactance circuit. A feeding part supplies a single feeding to the active element.
Abstract translation: 目的：提供单个馈电光束转向装置，通过使用寄生元件形成小尺寸的简单结构来执行自由的方向控制。 构成：电介质在电介质基片（140）的接地平面上形成平面型。 电介质衬底包括一个有源电路元件（110）和至少两个寄生元件（121-124）。 有源电路元件通过单电源馈送到电介质的上表面直接激发射频信号。 寄生元件与有源电路元件具有固定的距离。 寄生元件对称组成。 电抗电路（151-154）分别控制负载在每个寄生元件中的电抗值。 控制电路（160）控制电抗电路的电压。 馈送部分向活动元件提供单个馈送。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR100964974B1
公开(公告)日：2010-06-21
申请号：KR1020080021347
申请日：2008-03-07
Applicant: 한국전자통신연구원
Abstract: 본 발명은 고주파 디바이스의 대전력 테스트 시스템 및 그의 방법에 관한 것으로, 주파수가 스윕되는 고주파 신호를 발생하는 신호 입력부; 테스트 대상 디바이스로 입력되는 상기 고주파 신호의 전력과 상기 테스트 대상 디바이스의 출력 신호의 전력을 각각 모니터링하는 모니터링부; 및 주파수별로 상기 테스트 대상 디바이스로 입력되는 상기 고주파 신호와 상기 테스트 대상 디바이스의 출력 신호간의 전력차를 계산하여, 주파수별 손실값을 획득하는 테스트 제어부를 포함하여 구성되며, 이에 의하여 대전력 환경하에서 고주파 디바이스의 특성을 테스트함으로써 테스트 동작의 신뢰성 및 정확성을 증대시켜 줄 뿐 만 아니라, 이와 동시에 고주파 신호의 주파수를 스윕시키면서 주파수별로 고주파 디바이스 특성을 테스트함으로써 보다 다양한 테스트 결과를 획득할 수 있도록 한다.
고주파 디바이스, 테스트 시스템, 테스트 방법, 대전력, 주파수 스윕.-
公开(公告)号：KR1020060068372A
公开(公告)日：2006-06-21
申请号：KR1020040107036
申请日：2004-12-16
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01R31/2865 , G01R31/2868 , G01R31/2877 , G01R31/2887
Abstract: 본 발명은 반도체 시료의 신뢰성 시험장치에 관한 것으로, 반도체 시료와 평가회로판을 포함하는 부품들이 탑재되는 시료 탑재부와, 반도체 시료의 하부에 장착되어 시험온도를 유지시키기 위한 가열블럭과, 가열블럭과 분리된 구조로 상기 가열블럭를 에워싸는 구조로 제작되어 주변 부품들의 온도를 냉각시키기 위한 냉각블럭과, 반도체 시료를 상, 하로 이동시키는 고정블럭을 포함하는 반도체 시료의 신뢰성 시험장치를 제공한다.
신뢰성, 반도체 시료, 신뢰성 시험장치-
公开(公告)号：KR1020090056772A
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：KR1020080021347
申请日：2008-03-07
Applicant: 한국전자통신연구원
Abstract: A high power test system of a high frequency and a method thereof are provided to increase the reliability and accuracy of a test by testing the property of the device under high power RF environment. A signal input part(210) generates a high frequency signal sweeping the frequency, and a monitor unit(220) monitors high frequency signal and power of output signal of a device to be tested. A test controller(230) calculates power difference between high frequency signal and the output signal of the device to be tested and obtains the loss of the frequency.
Abstract translation: 提供了一种高频高功率测试系统及其方法，通过在高功率RF环境下测试器件的性能来提高测试的可靠性和准确性。 信号输入部（210）产生扫描频率的高频信号，监视部（220）监视被测设备的高频信号和输出信号的功率。 测试控制器（230）计算高频信号与要测试的设备的输出信号之间的功率差，并获得频率的损失。
-
公开(公告)号：KR100825744B1
公开(公告)日：2008-04-29
申请号：KR1020060113479
申请日：2006-11-16
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: G01R31/3173
CPC classification number: G01R31/2858 , G01R31/31907 , G01R31/31908
Abstract: A broadband power durability test system and a method for testing the same are provided to enhance power durability characteristics by detecting a weak point of a resonator electrode according to a weak frequency. A network analyzer(100) generates a continuous wave signal according to a frequency sweep in order to analyze electrical characteristics of a DUT(Device Under Test)(420). A BPDT(Broadband Power Durability Testing) module(300) receives the continuous wave signal, monitors power of input and output signals, and transfers the monitored power to the network analyzer. A high temperature tester(400) tests a high temperature stress acceleration lifetime of the DUT. A control analysis computer(800) controls each of components of a system and analyzes test data from the components.
Abstract translation: 提供宽带电力耐久性测试系统及其测试方法，以通过根据弱频率检测谐振器电极的弱点来增强功率耐久性特性。 网络分析器（100）根据频率扫描生成连续波信号，以便分析DUT（被测设备）的电特性（420）。 BPDT（宽带电源耐久性测试）模块（300）接收连续波信号，监视输入和输出信号的功率，并将监控的功率传输到网络分析仪。 高温测试仪（400）测试DUT的高温应力加速寿命。 控制分析计算机（800）控制系统的每个组件并分析来自组件的测试数据。
-
公开(公告)号：KR100613105B1
公开(公告)日：2006-08-17
申请号：KR1020040107036
申请日：2004-12-16
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01R31/2865 , G01R31/2868 , G01R31/2877 , G01R31/2887
Abstract: 본 발명은 반도체 시료의 신뢰성 시험장치에 관한 것으로, 반도체 시료와 평가회로판을 포함하는 부품들이 탑재되는 시료 탑재부와, 반도체 시료의 하부에 장착되어 시험온도를 유지시키기 위한 가열블럭과, 가열블럭과 분리된 구조로 상기 가열블럭를 에워싸는 구조로 제작되어 주변 부품들의 온도를 냉각시키기 위한 냉각블럭과, 반도체 시료를 상, 하로 이동시키는 고정블럭을 포함하는 반도체 시료의 신뢰성 시험장치를 제공한다.
신뢰성, 반도체 시료, 신뢰성 시험장치
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
11
records
(took 0.019 seconds)
