公开(公告)号：FR3100907B1

公开(公告)日：2022-12-09

申请号：FR1910189

申请日：2019-09-16

Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2

Inventor： GOUEDO PASCAL

IPC: G06F7/02 ,  G06F12/16

Abstract: Test de programme La présente description concerne un procédé comprenant une étape de sélection de zones mémoire (154) à partir de positions d'instructions d'un programme, les instructions occupant chacune un ou plusieurs emplacements mémoire (510), et les zones (154) comprenant pour chaque emplacement mémoire (510) un même nombre de bits, de préférence égal à un ou deux. Figure pour l'abrégé : Fig. 5

公开(公告)号：FR3100907A1

公开(公告)日：2021-03-19

申请号：FR1910189

申请日：2019-09-16

Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2

Inventor： GOUEDO PASCAL

IPC: G06F7/02 ,  G06F12/16

Abstract: Test de programme La présente description concerne un procédé comprenant une étape de sélection de zones mémoire (154) à partir de positions d'instructions d'un programme, les instructions occupant chacune un ou plusieurs emplacements mémoire (510), et les zones (154) comprenant pour chaque emplacement mémoire (510) un même nombre de bits, de préférence égal à un ou deux. Figure pour l'abrégé : Fig. 5