公开(公告)号：FR3108225A1

公开(公告)日：2021-09-17

申请号：FR2002563

申请日：2020-03-16

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： LINGE YANIS ,  LANDRY SIMON

IPC: H04L9/36 ,  G06F11/14

Abstract: Détection de fautes par un circuit électronique La présente description concerne un procédé (200) de détection de fautes dans une application, par un circuit électronique, d’une première fonction à un message, comprenant les étapes suivantes : générer (203), à partir du message, un nombre N pair non nul de premiers ensembles différents comportant chacun P éléments de données ; appliquer (207), aux P éléments de données de chaque premier ensemble, une ou plusieurs deuxièmes fonctions fournissant, pour chaque premier ensemble, un deuxième ensemble comportant Q images ; et cumuler (211) toutes les images, en commençant par au plus Q-1 images choisies parmi les Q images d’un même deuxième ensemble. Figure pour l'abrégé : Fig. 2

公开(公告)号：FR3124670A1

公开(公告)日：2022-12-30

申请号：FR2106977

申请日：2021-06-29

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： LANDRY SIMON ,  LINGE YANIS

IPC: H04L9/06 ,  H04L9/28

Abstract: Protection de données traitées par un algorithme de chiffrement La présente description concerne un procédé de protection d’une première donnée (x) appliquée à un algorithme cryptographique, exécuté par un processeur, dans lequel ledit algorithme est un algorithme par tour, chaque tour traitant des contenus de premier, deuxième et troisième registres (20, 21, 22), le contenu du deuxième registre (21) étant, lors des tours d’une première parité, masqué par le contenu d’un quatrième registre (24) et le contenu du troisième registre (22) étant, lors des tours d’une deuxième parité, masqué par le contenu d’un cinquième registre (25) Figure pour l'abrégé : Fig. 3

公开(公告)号：FR3108225B1

公开(公告)日：2022-11-11

申请号：FR2002563

申请日：2020-03-16

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： LINGE YANIS ,  LANDRY SIMON

IPC: H04L9/36 ,  G06F11/14

Abstract: Détection de fautes par un circuit électronique La présente description concerne un procédé (200) de détection de fautes dans une application, par un circuit électronique, d’une première fonction à un message, comprenant les étapes suivantes : générer (203), à partir du message, un nombre N pair non nul de premiers ensembles différents comportant chacun P éléments de données ; appliquer (207), aux P éléments de données de chaque premier ensemble, une ou plusieurs deuxièmes fonctions fournissant, pour chaque premier ensemble, un deuxième ensemble comportant Q images ; et cumuler (211) toutes les images, en commençant par au plus Q-1 images choisies parmi les Q images d’un même deuxième ensemble. Figure pour l'abrégé : Fig. 2