使用光片生成和散射分析的颗粒物测量

    公开(公告)号:CN108885162A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201780021227.6

    申请日:2017-03-16

    CPC classification number: G01N21/53 G01N2201/0612 G01N2201/0633

    Abstract: 公开了用于使用平顶强度激光片光束生成的介质(诸如空气)中的颗粒物(PM)测量的技术。用于生成激光片光束的技术可包括非专用光学元件(例如,非球面透镜、球面透镜、双凸面透镜和/或柱面透镜),其具有成本效率,减少了系统的总占用面积,并且还提供相较于传统技术增加的功率效率。PM测量系统可使用与介质流动通道组合的所生成的激光片光束,以使介质穿过激光片光束,由此使得该介质内的颗粒对光进行散射,其可以使用光传感器(例如,光电检测器)来检测。随后可以分析散射光信号以使其与对应的颗粒尺寸匹配,并且可以确定每个颗粒尺寸的信号的量,以测量介质内的颗粒的尺寸和计数。

    透射光强度测定单元
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107533004A

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201680025377.X

    申请日:2016-05-27

    Abstract: 本发明在于能够充分获得从光源透射过管路而到达受光元件的光的光量。一种透射光强度测定单元,被用于流体浓度测定装置,所述流体浓度测定装置对在具备具有透光性且可变形的管壁的管路内流动的流体的浓度进行测定,所述透射光强度测定单元包括:光源,从所述管路的表面上的供光部位,对所述管路内供给光;受光元件,在相对于所述供光部位而位于所述管路的直径方向的相反侧的受光部位,接收从所述供光部位通过所述管路的壁内及所述管路内的流体内而来的光,并输出表示所述光的强度的信号;以及透光构件,配置在所述光源与所述供光部位之间的光路、及所述受光元件与所述受光部位之间的光路中的至少一个光路上,且抵接于所述管壁,通过所述管壁的弹性变形而密接至所述管壁。

    测量气体的气体组分的浓度的测量方法和气体分析仪

    公开(公告)号:CN105683727B

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201580002320.3

    申请日:2015-09-23

    Abstract: 为了测量在测量气体(1)中的气体组分的浓度,利用电流(i)来控制能调谐波长的激光二极管(3)并且由激光二极管(3)产生的光线(4)穿过测量气体(1)引导到检测器(5)上。在此,该电流(i)以周期性彼此跟随的扫描间隔变化,从而基于波长地扫描气体组分的感兴趣的吸收谱线。电流(i)可以附加地在波长调制光谱学的意义上以小频率和小振幅正弦地调制。由检测器(5)产生的测量信号(14)被评估为测量结果(16)。为了改善测量信号噪音比并且在相同的测量路径上实现明显较低的指示极限,电流(i)以至少一个在GHz范围内的高(HF‑)频率被调制,从而不发生波长调制。HF调制的振幅在使用激光二极管(3)的线性控制范围的情况下以最大的程度选择。测量信号(140)在其评估之前在至少一个高频的位置被解调。

    气体分析装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107024438A

    公开(公告)日:2017-08-08

    申请号:CN201610941635.0

    申请日:2016-10-25

    Inventor: 井户琢也

    Abstract: 本发明提供一种气体分析装置,利用对测量光的吸光,高精度地分析对象气体。气体分析装置(100)包括多个光源(1‑1、1‑2、……1‑n)、导入部(5)、受光部(7)和分析部(94),多个光源(1‑1、1‑2、……1‑n)分别同时输出测量光(Lm1、Lm2、……Lmn)。导入部(5)将多种测量光(Lm1、Lm2、……Lmn)导入测量空间(S)。受光部(7)测量合计强度(Im)。分析部(94)基于多种测量光经过存在多种对象气体中的任意的对象气体的测量空间(S)时由受光部(7)测量的作为合计强度(Im)的测量对象强度(Id)与多种测量光经过不存在多种对象气体中的任意的对象气体的测量空间(S)时由受光部(7)测量的作为合计强度(Im)的基准强度(Id)之差,进行对象气体的分析。

    宝石的光学属性的光谱确定

    公开(公告)号:CN106662535A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201480081098.6

    申请日:2014-08-08

    Inventor: 顾延松

    Abstract: 总体上描述了用于宝石的一个或更多个光学属性的光谱确定的技术。成像装置可以包括被构造成照射宝石的一个或更多个部分的一个或更多个光源,以及被构造成检测响应于照射而来自宝石的部分的反射光的一个或更多个光电检测器。分析模块可以可通信地耦接到成像装置,并且被构造成分析反射光来确定宝石的部分的光学属性。光学属性可以包括宝石的部分的净度、色泽、荧光、双折射、二色性和亮度中的至少一项。在一些示例中,基于一个或更多个所确定的宝石的部分的光学特性可以创建宝石的光学指纹,其中,光学指纹可以唯一标识宝石。

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