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公开(公告)号:CN113439318B
公开(公告)日:2025-04-25
申请号:CN201980092273.4
申请日:2019-09-10
Applicant: LS电气株式会社
Inventor: 徐民圭
IPC: H01H33/662 , H01H33/664 , G01J1/02
Abstract: 本发明提供一种真空断路器用触头监测装置,该真空断路器包括真空灭弧室和推杆组件,所述真空灭弧室包括固定在绝缘容器内的固定电极、配置在所述固定电极的一端的固定触头、设置在所述绝缘容器内并能够在上下方向上移动的可动电极、配置在所述可动电极的一端并与所述固定触头接触或分离的可动触头,所述推杆组件与所述可动电极的另一端结合,使所述可动电极上升或下降。所述触头监测装置包括:识别标签,附着在所述推杆组件的圆筒形的杆壳体的外周面;以及传感器组件,与所述推杆组件相邻并监测所述识别标签的位置,具有与所述推杆组件的移动位移不同的感测方向。
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公开(公告)号:CN119866418A
公开(公告)日:2025-04-22
申请号:CN202380065635.7
申请日:2023-08-08
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开了一种烹饪设备及其控制方法。根据本公开的所述烹饪设备可以:如果识别出与获取布置在所述烹饪设备中的食物原料的图像有关的第一事件,则通过调整与相机有关的至少一个参数的设定值来获取第一设定值;通过所述相机基于所述第一设定值获取布置在所述烹饪设备中的食物原料的至少一个图像;如果在所述至少一个图像的获取期间识别出第二事件,则获取所述第一设定值;基于第二设定值获取食物原料的第一图像;将所述第一图像提供给用户;获取第二图像,其中,针对所述第二图像,用于获取所述第一图像的所述第二设定值被改变为所述第一设定值;将所述第二图像输入到用于识别食物原料的对象识别模型中;以及获取与包括所述在第二图像中的食物原料有关的信息。
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公开(公告)号:CN115097414B
公开(公告)日:2025-04-11
申请号:CN202210701717.3
申请日:2022-06-20
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及鬼成像探测数据的优化,具体为基于参考光路总强度排序的鬼成像优化方法,其利用散斑图案的统计特性和总强度,根据散斑图案总强度对原始散斑序列进行排序。通过筛选器将新的散斑序列划分为子集,以进一步分析散斑数据各部分的有效特性。数值仿真结果表明:总采样次数为3000次、划分比例为2:1:2时,所提方法与桶探测器值排序方法相比,对比度/均方误差均有所提升,验证了0.85采样率筛选散斑的有效性性。同时,对于“知”目标图像,相同比例下本文方法在对比度和均方误差方面相较传统排序方法均有所提升。因此,本所提方法可推广于目前所有的关联算法。并且还提出了一种联合筛选方法,为今后进一步研究奠定了基础。
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公开(公告)号:CN119688060A
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN202411880209.1
申请日:2024-12-19
Applicant: 上海傲世控制科技股份有限公司
Abstract: 本发明属于光电检测技术领域,具体涉及一种PIN‑FET探测器电压响应度变化比的快速测试系统及方法,包括微控制器系统板、TEC温度筛选台、温度传感器、光源和电源;微控制器系统板与PIN‑FET探测器和温度传感器连接;PIN‑FET探测器设于TEC温度筛选台上;PIN‑FET探测器与光源连接;温度传感器用于获取PIN‑FET探测器的温度和TEC温度筛选台的温度;电源与微控制器系统板和PIN‑FET探测器连接。与现有技术相比,本发明解决现有技术中缺少对单支或者少量的PIN‑FET探测器进行电压响应度变化比测试的系统和方法,本方案实现了对单支或者少量的PIN‑FET探测器进行电压响应度变化比测试。
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公开(公告)号:CN113454429B
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN201980087333.3
申请日:2019-10-30
Applicant: 变量公司
Inventor: 于果
Abstract: 光学检测器(110)设置有具有不同光谱特性的多个光源(Lx),其跨照明强度组合的范围被控制开/关。测量传感器(213)接收经由受限光学通道从目标表面反射的辐射光,并生成代表性的输出信号。本地控制器(205)或远程计算设备(130)从光学检测器接收输出信号或对应的消息,并基于针对照明强度组合中的每一个的信号生成低分辨率光谱数据集合。低分辨率光谱数据集合基于机器学习算法进行内插,该机器学习算法利用来自参考设备的高分辨率数据进行训练以生成与目标表面相关联的高分辨率光谱数据集合。
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公开(公告)号:CN119666143A
公开(公告)日:2025-03-21
申请号:CN202411578798.8
申请日:2024-11-07
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
Abstract: 本申请涉及一种ICMOS芯片的光锥耦合方法、ICMOS芯片、微处理器和日盲紫外光检测设备,涉及日盲紫外光检测技术领域。采用本方法能够有效提高对光信号的利用率。该方法包括:使用分析纯酒精清洁CMOS芯片的感光面;对光锥的小平面进行切削,并在光锥耦合粘结时,在CMOS芯片的感光面像素区的边缘空余两行像素单元;使用分析纯酒精将光锥的表面进行清洗在光锥的小端面与CMOS芯片之间蒸镀ITO薄膜作为接地的导电层;在将CMOS芯片、光锥和像增强器进行对准后,将三者分别水平向分开,使用混胶比例3:1的环氧胶滴于感光面的表面,将CMOS芯片放在三维精密位移台后一边调节,一边在光锥的另一个平面观察,同时微微地按压光锥,使环氧胶在感光面内均匀涂覆且不产生气泡。
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公开(公告)号:CN119573871A
公开(公告)日:2025-03-07
申请号:CN202411722141.4
申请日:2024-11-28
Applicant: 北京瑞科同创科技股份有限公司
IPC: G01J1/02
Abstract: 本发明公开了一种漂浮式海上太阳辐射测量数据的校正方法及系统,其包括以下步骤:获取漂浮式海上太阳辐射测量系统的俯仰角和横滚角;获取水平面直角坐标系中测量平面指向天空的单位法向量;计算测量平面与水平面夹角;获取水平面太阳天顶角和方位角;构建沿太阳光入射方向指向太阳的单位向量;对天顶角进行校正;计算水平面散射辐照度值;对漂浮式海上太阳辐射测量系统保存的水平面总辐照度进行校正,得到校正后的水平面总辐照度。本发明通过对漂浮式海上太阳辐射测量系统的测量数据进行校正,减小了风浪导致的测量平台倾角从而导致的测量误差,为海上光资源的评估和海上光伏电站的规划提供了更准确的测量数据。
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公开(公告)号:CN119562173A
公开(公告)日:2025-03-04
申请号:CN202411175743.2
申请日:2024-08-26
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H04N25/70 , H04N25/79 , H10F39/18 , G01J1/44 , G01J1/02 , A61B17/00 , A61B17/94 , A61B1/04 , A61B1/06 , A61B1/005
Abstract: 本发明公开了一种光电转换设备、光电转换系统和移动体。该设备包括进行雪崩倍增的光电二极管、充电电路、用于生成控制信号以控制充电电路的控制信号生成电路、用于根据从光电二极管输出的信号来生成脉冲信号的计数脉冲生成电路、以及用于对从计数脉冲生成电路输出的脉冲信号进行计数的计数器。控制信号生成电路被配置为基于时钟信号和掩蔽信号来输出具有第一周期的控制信号和具有比第一周期长的第二周期的控制信号。在计数器的计数值达到阈值的情况下,要从控制信号生成电路输出的信号可以从具有第一周期的控制信号切换到具有第二周期的控制信号。
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公开(公告)号:CN119546928A
公开(公告)日:2025-02-28
申请号:CN202380053323.4
申请日:2023-07-13
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于确定至少一个光电检测器(120)的至少一个补偿检测器信号的方法。至少一个光电检测器(120)包括至少一个检测器元件(122),该至少一个检测器元件被配置用于根据至少一个检测器元件(122)的光照来生成至少一个检测器信号。该方法包括以下步骤:a)使用至少一个检测器元件(122)并禁止对至少一个检测器元件(122)进行光照来确定至少一个暗检测器电阻;b)使用至少一个检测器元件(122)并允许对至少一个检测器元件(122)进行光照来生成至少一个亮检测器信号;以及c)使用用于评估至少一个暗传感器电阻和至少一个亮检测器信号的至少一个评估单元(128)来确定至少一个补偿检测器信号,以用于补偿至少一个检测器元件(122)的至少一个温度漂移。本发明进一步涉及一种用于通过使用至少一个光电检测器(120)来确定关于至少一个测量对象(114)的至少一项测量信息的方法、一种光电检测器(120)以及一种光谱仪(110)。
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公开(公告)号:CN119469396A
公开(公告)日:2025-02-18
申请号:CN202411630077.7
申请日:2024-11-15
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种超长线列红外探测器自适应绝热支撑结构,包括支撑柱、探测器安装基板、冷缩支撑、冷指和底板;冷指上端固定在探测器安装基板的下表面,冷指下端与底板固定连接;支撑柱的下端与底板固定连接;支撑柱的上端设置冷缩支撑,探测器安装基板与冷缩支撑固定连接。通过空间用超长线列红外探测器低温工作条件下无力学环境的特点,利用探测器安装基板以及冷缩支撑结构在低温下的冷缩尺寸变化,实现了低应力及低漏热的效果。
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