公开(公告)号：JP6096770B2

公开(公告)日：2017-03-15

申请号：JP2014520300

申请日：2012-07-12

Applicant: ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド

Inventor： ラポポート,ウィリアム・ロス ,  ケーン,ジェームズ ,  ラウ,カーステン

IPC: B42D25/20 ,  G07D7/12 ,  B42D25/36 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01J3/427 ,  G01N21/64 ,  G07D7/1205 ,  G01N2021/6421

公开(公告)号：JP5845690B2

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：JP2011164537

申请日：2011-07-27

Applicant: セイコーエプソン株式会社

Inventor： 吉澤 隆彦

IPC: G01J3/26 ,  G01J3/36 ,  H01L27/14 ,  G02B5/28

CPC classification number: G01J3/427 ,  B81C1/00007 ,  B81C1/00126 ,  B81C1/0015 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/513

公开(公告)号：JP5713103B2

公开(公告)日：2015-05-07

申请号：JP2013516233

申请日：2012-03-08

Applicant: 株式会社村田製作所

Inventor： 土基 博史 ,  志牟田 亨

IPC: A61B5/0245

CPC classification number: G01J1/44 ,  A61B5/02433 ,  A61B5/14552 ,  A61B5/7203 ,  G01J3/427 ,  G01N21/256 ,  G01N21/3151 ,  A61B5/6826 ,  A61B5/6829 ,  G01J2001/444

公开(公告)号：JP2014527621A

公开(公告)日：2014-10-16

申请号：JP2014520300

申请日：2012-07-12

Applicant: ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド

Inventor： ラポポート，ウィリアム・ロス ,  ケーン，ジェームズ ,  ラウ，カーステン

IPC: G01N21/64 ,  B42D25/20 ,  B42D25/36 ,  G07D7/12

CPC classification number: G01J3/427 ,  G01N21/64 ,  G01N2021/6421 ,  G07D7/1205

Abstract: 物品の認証のための方法および装置は、励起放射の物品の領域および少なくとも2つの放射線検出器を露光する励起放射ジェネレータを含み、第1のバンドおよび第1のバンドと重ならない第1のバンド内の領域から放出される放射線を検出する。第1のバンドは放射イオンの第1の放射サブバンドと一致し、第2のバンドは同じ放射イオンの第2の放射サブバンドと一致する。演算処理システムは、第2のバンドの発せられた放射線の第2の強度を有する第1のバンドの発せられた放射線の第1の強度との数学的関係(例えば比率)を表し、比較値が有利に認証パラメータに匹敵するかどうか決定する比較値を算出する。比較値が有利に認証パラメータに匹敵するときに、物品は確実であると確認される。

Abstract translation: 为制品的认证方法和装置包括用于露出区和激发辐射的制品的至少两个辐射探测器，所述第一频带内的激发辐射发生器的不与所述第一频带和所述第一频带重叠 检测从所述区域发射的辐射。 所述第一频带中的第一辐射子带外辐射离子相匹配，所述第二频带与所述相同的辐射离子的第二辐射子带重合。 处理系统表示与具有由所述第二频带发射的辐射（例如比）时，比较值的第二强度的第一频带发射的辐射的第一强度之间的数学关系 计算比较值，以确定是否可比较有利地验证参数。 当比较值是相当有利的验证参数，它被识别为所述制品是可靠的。

公开(公告)号：JP2012524244A

公开(公告)日：2012-10-11

申请号：JP2012505049

申请日：2010-04-16

Applicant: ダンフォス・アイエックスエイ・エイ/エス

Inventor： クリシュナ，アルン ,  ジェンセン，ジェンス・メラー ,  ストルベルグ−ロール，トミネ ,  ブフナー，ライナー ,  ムース，ヘンリク・ゲデ ,  ムンク，ラーシュ

IPC: G01N21/35

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01J1/00 ,  G01J1/10 ,  G01J3/02 ,  G01J3/027 ,  G01J3/36 ,  G01J3/427 ,  G01J5/02 ,  G01J5/10 ,  G01J2003/1213 ,  G01N21/314

Abstract: 本発明は、フィルタ構成と、フィルタ構成の下流側に配置された検出器構成と、検出器構成に接続された評価デバイスとを有するセンサに関し、フィルタ構成は、第１の所定の帯域すなわち被疑帯域（ＳＢ）の通過を許す帯域通過フィルタとして構成された、少なくとも１つの第１のフィルタすなわち被疑フィルタと、第２の所定の帯域（１つまたは複数）すなわち基準帯域（１つまたは複数）（ＲＢ１およびＲＢ２）の通過を許す帯域通過フィルタとして構成された、少なくとも１つの第２のフィルタすなわち基準フィルタ（１つまたは複数）とを有し、検出器構成は、フィルタの少なくとも１つに関連付けられた少なくとも１つの検出器を有する。 帯域通過基準フィルタは、被疑フィルタの帯域通過の上および下に分布する。 センサは有利にはＩＲ帯域内で利用することができ、有利にはＣＯ
2 を検出するために用いることができる。
【選択図】図２Ｅ

公开(公告)号：JP2015531874A

公开(公告)日：2015-11-05

申请号：JP2015531562

申请日：2013-09-12

Applicant: フォルシュングスフェアブント ベルリン エー ファウForschungsverbund Berlin e.V. ,  フォルシュングスフェアブント ベルリン エー ファウForschungsverbund Berlin e.V.

Inventor： マーティン マイヴァルト， ,  マーティン マイヴァルト， ,  ベルント スンプフ， ,  ベルント スンプフ，

IPC: G01N21/65

CPC classification number: G02B27/1006 ,  G01J3/427 ,  G01J3/44 ,  G01J2003/4424 ,  G01N21/65 ,  G01N2021/399 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/024 ,  G02B27/09 ,  G02B27/1086 ,  G02B27/141

Abstract: 本発明では、サンプルを励起するためのそれぞれ異なる波長を有する個々の光ビーム(102, 116)を生成する励起光源(101、115)を備える光学素子の配置に特徴のある装置(122)について述べられている。それにより、励起の結果としてサンプルから後方散乱された光が、ラマン分光解析に利用可能となる。装置(122)は、個々の光ビーム(102、116)に関連付けられた偏向装置(103、117)を備え、個々の光ビーム(102、116)を共通光路上に偏向し、共通光路は、同様の光学システム(109)を備え、光ビーム(102、116)を集束する。【選択図】図1

Abstract translation: 在本发明中，描述了装置的特征在于所述光学元件的布置包括个体光束激发光源，用于生成（101和115），以具有用于激发样品不同的波长（102，116）（122） 是的。 由此，光从样品作为激发的结果，提供给拉曼分光分析反向散射。 设备（122）包括与所述单独的光束相关联的偏转装置（102116）（103117）偏转单独的光束（102116）至公共光路中，公共光路中， 与类似的光学系统（109），它的光聚焦光束（102116）。 点域1

公开(公告)号：JP2015040747A

公开(公告)日：2015-03-02

申请号：JP2013171366

申请日：2013-08-21

Applicant: 国立大学法人徳島大学 ,  Univ Of Tokushima

Inventor： DEGUCHI YOSHIHIRO ,  KAMIMOTO TAKAHIRO

IPC: G01N21/35

CPC classification number: G01N21/61 ,  G01J3/427 ,  G01J3/4338 ,  G01J5/0014 ,  G01J5/601 ,  G01K11/00 ,  G01K11/18 ,  G01N21/3151 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/399

Abstract: 【課題】装置の大型化を招かず、ガスの濃度と温度の分析を可能とするガス分析装置を提供する。【解決手段】ガス分析装置10は、第1及び第2レーザ光を出力する第1及び第2レーザ光源11、12と、第1及び第2レーザ光の波長がそれぞれ所定の波長帯にて変化するよう第1及び第2レーザ光源を制御するレーザ制御手段11と、第1レーザ光と第2レーザ光を混合し、計測対象ガスに照射する合波手段15、17と、計測対象ガスを透過したレーザ光を受光する受光手段19と、受光手段からの電気信号に基づき、計測対象ガスの温度及び/または濃度を分析する解析手段23とを備える。レーザ制御手段14は、レーザ光の波長を変化させる際に、第1レーザ光の振幅の大きさと第2レーザ光の振幅の大きさとを異ならせ、かつ第1レーザ光の強度と第2レーザ光の強度とを逆方向に変化させる。【選択図】図1

Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够在不增加设备尺寸的情况下分析气体浓度和温度的气体分析装置。解决方案：气体分析装置10包括：第一和第二激光光源11,12，用于 输出第一和第二激光; 激光控制装置11，用于控制第一和第二激光光源，使得第一和第二激光的波长分别在预定波长带内改变; 用于混合第一激光和第二激光的多路复用装置15,17，以及照射待测量的气体; 光接收装置19，用于接收透过待测气体的激光; 以及分析装置23，用于根据来自光接收装置的电信号分析待测气体的温度和/或浓度。 激光控制装置14使第一激光的振幅与第二激光的振幅不同，并且当改变第二激光的波长时，改变第一激光的强度和第二激光的强度， 激光灯。

公开(公告)号：JP4441738B2

公开(公告)日：2010-03-31

申请号：JP2006545435

申请日：2004-12-14

Applicant: マイクロン テクノロジー, インク.

Inventor： フォーケット，ジュリー，イー ,  ヘルビング，レネ，ピー

IPC: H04N5/225 ,  G01J3/10 ,  G01J3/12 ,  G01J3/26 ,  G01J3/28 ,  G01J3/427

CPC classification number: G01J3/427 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/501 ,  G01J3/51 ,  G01J2003/1213

公开(公告)号：JP2009526239A

公开(公告)日：2009-07-16

申请号：JP2008554491

申请日：2007-02-07

Applicant: ベックマン コールター, インコーポレイテッド

Inventor： ヨーゼフ ヨット． アツラー， ,  ダニエル エム． ストック，

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/645 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0235 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/427 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/6408 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6445 ,  G01N21/763 ,  G01N2021/1738 ,  G01N2021/6415 ,  G01N2021/6419 ,  G01N2021/6441 ,  G01N2021/6482 ,  G01N2201/024 ,  G01N2201/0618 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0621 ,  G01N2201/0692 ,  G01N2201/0696

Abstract: 試料（１６）を分析するための装置（１２）に用いるカートリッジ（１０、６０、８０、１１０、１３０、１４０、１７０、１８０、２００、２２２、２２４、２２６、２２８、２３０、２４０、２４２、２４６、２８０、２８２、３００）およびカートリッジシステム（２２０）を提供する。 該カートリッジは、１つ以上の光源（１８）および／または光学系（２２、３４、８４、１２０、１６２）、および蛍光、吸光度、またはルミネセンスなどの特定の種類の用途に特有の他の構成要素を有する。 該光源、光学系、および特定の用途に対する他の構成要素は、単一カートリッジ内に収容される。 該システムは、マルチモード機器の異なる用途に対する複数のカートリッジを有する。 該カートリッジは、１つのカートリッジを該装置から除去し、他のカートリッジを簡単に搭載し得るように、「プラグイン」形態で該装置と着脱可能に係合される。

公开(公告)号：JP2007506974A

公开(公告)日：2007-03-22

申请号：JP2006528035

申请日：2004-09-10

Applicant: アドバンスド テクノロジー マテリアルズ,インコーポレイテッド

Inventor： アルノ，ジョゼ，アイ．

IPC: G01N21/35 ,  G01N21/05 ,  G01N21/15 ,  H01L20060101 ,  H01L21/00

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01J3/32 ,  G01J3/427 ,  G01N21/05 ,  G01N21/15 ,  G01N21/85 ,  G01N2021/151 ,  G01N2021/8411 ,  H01L21/67253

Abstract: 本発明は半導体処理システムに関するが、このシステムは、材料による特有の波長の赤外光の吸収に基づいて、関心のある材料を分析することによってプロセスを制御するために、赤外線ベースの熱電堆検出器を用いる。 具体的には、赤外光ビームが、赤外光源から関心のある材料を含むサンプリング領域を通って熱電堆検出器へと、線形透過経路を通して透過される。 線形透過経路は、赤外光の透過中の信号損失の危険を低減する。 赤外光の透過経路は、透過中のかかる信号損失を最小限にするために、非常に滑らかで反射性の内面を含んでもよい。