測量影像感測晶片偏移之系統與方法
    95.
    发明专利
    測量影像感測晶片偏移之系統與方法 失效
    测量影像传感芯片偏移之系统与方法

    公开(公告)号:TW398135B

    公开(公告)日:2000-07-11

    申请号:TW087118535

    申请日:1998-11-06

    Inventor: 盧煜煬 梁乃悦

    IPC: H04N

    Abstract: 一種測量影像感測晶片偏移之系統,係包括一測試圖,具有一既定圖案。一密接式影像感測器模組,具有多條排成一列之感測晶片,每一感測晶片配置有多個感測器,其包括位於相鄰兩威測晶片端點之感測器。一驅動裝置及一控制系統,控制系統係用以控制驅動裝置,使密接式影像感測器模組在一既定方向相對於測試圖移動,該密接式影像感測器模組掃瞄該測試圖,並取得位於相鄰兩感測晶片端點感測器所感測之信號波形,依此計算相鄰兩感測晶片端點之感測器之間距。

    Abstract in simplified Chinese: 一种测量影像传感芯片偏移之系统,系包括一测试图,具有一既定图案。一密接式影像传感器模块,具有多条排成一列之传感芯片,每一传感芯片配置有多个传感器,其包括位于相邻两威测芯片端点之传感器。一驱动设备及一控制系统,控制系统系用以控制驱动设备,使密接式影像传感器模块在一既定方向相对于测试图移动,该密接式影像传感器模块扫瞄该测试图,并取得位于相邻两传感芯片端点传感器所传感之信号波形,依此计算相邻两传感芯片端点之传感器之间距。

    多功能事務機及其掃描裝置之校正定位方法 MULTIFUNCTION PERIPHERAL AND CALIBRATING AND POSITIONING METHOD OF SCANNING DEVICE THEREOF
    97.
    发明专利
    多功能事務機及其掃描裝置之校正定位方法 MULTIFUNCTION PERIPHERAL AND CALIBRATING AND POSITIONING METHOD OF SCANNING DEVICE THEREOF 审中-公开
    多功能事务机及其扫描设备之校正定位方法 MULTIFUNCTION PERIPHERAL AND CALIBRATING AND POSITIONING METHOD OF SCANNING DEVICE THEREOF

    公开(公告)号:TW201208343A

    公开(公告)日:2012-02-16

    申请号:TW099125917

    申请日:2010-08-04

    Inventor: 黃正宇

    IPC: H04N

    Abstract: 本案關於一種多功能事務機及其掃描裝置之校正定位方法,其中校正定位方法包括步驟: 監控掃描裝置之移動;判斷掃描裝置之位置;依掃描裝置之位置記錄變數,其中變數係選自第一數値或第二數値,其係分別代表掃描裝置位於掃描平台之第一區域或第二區域;依變數決定掃描裝置之第一次移動方向;控制掃描裝置朝第一次移動方向進行第一次移動掃描;判斷掃描裝置之第一次移動掃描是否行經校正定位結構;以及當掃描裝置行經校正定位結構,控制掃描裝置回到待命位置。

    Abstract in simplified Chinese: 本案关于一种多功能事务机及其扫描设备之校正定位方法,其中校正定位方法包括步骤: 监控扫描设备之移动;判断扫描设备之位置;依扫描设备之位置记录变量,其中变量系选自第一数値或第二数値,其系分别代表扫描设备位于扫描平台之第一区域或第二区域;依变量决定扫描设备之第一次移动方向;控制扫描设备朝第一次移动方向进行第一次移动扫描;判断扫描设备之第一次移动扫描是否行经校正定位结构;以及当扫描设备行经校正定位结构,控制扫描设备回到待命位置。

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