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公开(公告)号：CN102322958A
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN201110226648.7
申请日：2011-08-09
Applicant: 复旦大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明属于光纤技术领域，具体涉及一种光纤偏振变化监测方法及光路系统。本发明基于光纤自身固有的偏振特性，采用光纤耦合器构成干涉光路，被监测光纤连接在干涉光路的输入光路径上，通过对干涉光强进行检测，来监测光纤偏振状态的变化。该发明还提供了一种等效于线偏振器效果的光纤光路构成方法。本发明的方法可用于对引起光纤偏振变化物理量的监测，例如，特别适用于采用光纤来感应外界扰动的周界安防等应用中。
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公开(公告)号：CN102221406A
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN201110135542.6
申请日：2011-05-24
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明公开了一种单片集成亚波长微偏振光栅的InGaAs线列或面阵探测器。它是一种光电探测器，由InGaAs光敏芯片、增透膜和亚波长微偏振光栅组成。增透膜选用低折射率SiO2材料，改善亚波长微偏振光栅的消光比。亚波长微偏振光栅是由不同偏振取向的偏振单元构成的偏振光栅线列或阵列，每个偏振单元是光栅周期小于入射光波长的金属偏振光栅。本发明实现亚波长微偏振光栅在近红外探测器上的片上集成，主要优点是：①将偏振光栅与探测器单片集成，简化光学系统，省略偏振扫描系统的运动部件；②可以实现高精度的角度定量化，避免角度误差；③不同偏振取向的偏振单元同时成像，对移动的目标获得准确的偏振信息。
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公开(公告)号：CN101881659A
公开(公告)日：2010-11-10
申请号：CN201010209989.9
申请日：2010-06-25
Applicant: 清华大学 , 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
CPC classification number: G01J5/023
Abstract: 本发明涉及一种电磁波检测装置，其包括至少一个电磁波检测单元，其中，该每个电磁波检测单元包括：一第一碳纳米管结构，该第一碳纳米管结构包括多个沿第一方向排列的碳纳米管；两个第一电极相互间隔且分别与该第一碳纳米管结构电连接；一第二碳纳米管结构，该第二碳纳米管结构包括多个沿第二方向排列的碳纳米管，该第二碳纳米管结构与该第一碳纳米管结构相对且间隔设置，且该第一方向与第二方向垂直；及两个第二电极相互间隔且分别与该第二碳纳米管结构电连接。
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公开(公告)号：CN1811383B
公开(公告)日：2010-10-27
申请号：CN200510107399.4
申请日：2005-12-29
Applicant: 霍尼韦尔国际公司
Inventor： S·蒂克西尔
CPC classification number: G01B11/0641
Abstract: 提供一种分析薄膜特性的系统和方法，由此通过采用非偏振光和沿着MD和CD方向的线性偏振的光来测量透射或反射光谱中的干涉条纹以确定薄膜的共面双折射率。三种光谱可同时或顺序测量。当在生产线上连续制备膜时，该共面双折射率数据可用于描述透明聚合物膜的特性，该聚合物膜主要由双轴定位聚合物构成。
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公开(公告)号：CN101487739A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200810164179.9
申请日：2008-12-29
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种全偏振图像测量系统。由一系列光学器件组合而成，入射光首先通过镜头采集，镜头上带有滤光片，选取特定波长的光。镜头将目标物上的光线采集进入系统并通过电光调制器，电光调制器受控，可以调制输出光束相位。然后此光通过偏振分光棱镜出射o光和e光图像，分别由两个CCD同步采集光强信息，最终将偏振信息处理并呈现在计算机上。由于不同目标物表面将入射光反射后的偏振特性不同，所以用本发明采集后会获取不同的偏振光学特性。通过信息处理技术提取相关偏振图像信息，可以实现对不同的待测物体进行探测。这一全偏振图像测量系统成本较低，特征准确，为遥感的测量研究带来极大便利，还具有一定的普适性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101120359A
公开(公告)日：2008-02-06
申请号：CN200680003833.7
申请日：2006-02-01
Applicant: 因特格莱弗软件技术公司
Inventor： 希莉亚·G·惠特克
CPC classification number: G01J4/04 , G01N21/21 , G06K7/10712 , G06K2009/3225 , G06T7/11 , G06T7/136 , G06T2207/30204
Abstract: 本发明涉及一种实时检测偏振识别标记的系统和方法。提供具有多个像素的图像数据帧(110)，其中每个像素包括偏振光强度信息。根据偏振光强度信息确定每个像素的强度值(120)。选择具有强度范围内的强度值的第一部分像素(130，140)。分析第一部分中具有容许范围内的相似角度的线偏振值的像素(180)，从而检测图像数据中的偏振识别标记(190)。
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公开(公告)号：CN119666155A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411885555.9
申请日：2024-12-20
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明属于光偏振测量技术领域，公开了一种全斯托克斯偏振计及其制备方法。本发明的全斯托克斯偏振计，包括基底、金属电极、各向异性晶体材料薄膜、绝缘封装材料薄膜；若干对金属电极位于基底上；两对金属电极和一片各向异性晶体材料薄膜构成一个探测单元；每个探测单元中，各向异性晶体材料薄膜覆盖在金属电极上；包括至少两个探测单元，各探测单元中心对称分布于基底上，且皆处于同一平面上；各探测单元的各向异性晶体材料薄膜的晶向之间构成设定的扭转角度；绝缘封装材料薄膜覆盖各向异性晶体材料薄膜。本发明能够识别全偏振的斯托克斯参量，并且具有小型化、集成化、高灵敏度和快速响应的特点，在光纤通信、传感等领域具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN119509702A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411620345.7
申请日：2024-11-13
Applicant: 福州大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明涉及一种通过应力调控实现光的圆偏振度探测的方法，属于偏振探测技术领域。所述方法采用蓝宝石衬底上生长的Bi2Te3/Fe4GeTe2异质结薄膜作为偏振探测器件，通过外加张应力exc将偏振探测器件的线偏振响应调为零。将施加张应力exc时正负45度入射角下的总光电流与背景电流比值随四分之一波片转角作为校准数据，通过将待测激光在正负45度入射角下的总光电流与背景电流的比值与校准数据进行对比，获得待测光的圆偏振度。本发明测量结果准确，简洁高效，可行性高，有利于日后推广应用。
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公开(公告)号：CN119268845A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411534715.5
申请日：2024-10-30
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明涉及斯托克斯参量校正方法，具体涉及一种适用于高能激光偏振检测的斯托克斯参量校正方法，用于解决使用分光光学系统来衰减激光能量，会改变入射激光的偏振状态，从而导致偏振参数测量误差的不足之处。该适用于高能激光偏振检测的斯托克斯参量校正方法，通过标定分光光学系统的偏振透过率，并结合傅里叶分析来提取激光的斯托克斯参量，再利用偏振透过率校正斯托克斯参量，进一步消除了分光光学系统引入的偏振误差，使得校正后的偏振参数更加接近激光的真实状态。
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公开(公告)号：CN119108450A
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202411248963.3
申请日：2024-09-06
Applicant: 广东工业大学
IPC: H01L31/109 , G01J4/04 , H01L31/032 , H01L31/0392
Abstract: 本发明涉及一种柔性偏振敏感光电探测器及其应用，包括柔性基底，位于柔性基底上的P型二维材料层和二维金属三卤磷系化合物层，与P型二维材料层接触的第一电极以及与二维金属三卤磷系化合物层接触的第二电极，P型二维材料层与二维金属三卤磷系化合物层部分重叠构成各向异性的范德华异质结；该柔性偏振敏感光电探测器具有光伏效应和偏振敏感检测能力，使该器件在柔性基底上的成像应用成为可能，该器件具有显著的整流行为和宽光谱响应，光谱响应范围为405nm～1310nm，该异质结器件拓宽了在柔性和极化光电子领域的潜在应用范围，同时制备过程简单，技术成熟，设备易得，成本低廉，非常有利于商业化推广。
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