MEMOIRE SECURISEE QUI EVITE LA DEGRADATION DE DONNEES

    公开(公告)号:FR2982406A1

    公开(公告)日:2013-05-10

    申请号:FR1160060

    申请日:2011-11-07

    Abstract: Procédé de gestion d'une mémoire non volatile, caractérisé en ce qu'il comprend un procédé d'écriture sécurisé comprenant une première phase d'écriture de données dans une première banque d'un plan mémoire de la mémoire non volatile, puis une seconde phase d'écriture des mêmes données dans une seconde banque du même plan mémoire de la mémoire non volatile en cas de succès de la première phase d'écriture.

    STRUCTURE DE PROTECTION D'UN CIRCUIT INTEGRE CONTRE DES DECHARGES ELECTROSTATIQUES

    公开(公告)号:FR2955699A1

    公开(公告)日:2011-07-29

    申请号:FR1050493

    申请日:2010-01-26

    Abstract: L'invention concerne un circuit intégré protégé contre des décharges électrostatiques, ce circuit intégré comprenant des plots d'entrée-sortie (IO1, IO2, IO3) et des premier (40, VDD) et second (GND) rails d'alimentation, et : un thyristor (43) connecté en direct entre chaque plot d'entrée-sortie et le second rail, chaque thyristor comportant, entre sa gâchette d'anode et son anode une résistance ; entre chaque thyristor et le premier rail, une diode (45) dont l'anode est reliée à la gâchette d'anode du thyristor et dont la cathode est reliée au premier rail par l'intermédiaire d'une résistance (Rd1, Rd2, Rd3) d'ajustement du déclenchement ; et un dispositif de déclenchement (47) adapté à laisser circuler un courant entre les premier et second rails lorsqu'une surtension positive survient entre ces rails.

    DISPOSITIF POUR FOURNIR UNE HAUTE TENSION D'EFFACEMENT PROGRAMMATION A UN CIRCUIT INTEGRE

    公开(公告)号:FR2951577A1

    公开(公告)日:2011-04-22

    申请号:FR0905026

    申请日:2009-10-20

    Abstract: L'invention concerne un dispositif (VMCT1) pour fournir à au moins un circuit intégré (IC31-IC3n) une haute tension (Vpp) d'effacement et/ou programmation d'une mémoire, comprenant au moins une borne de contact (P22, P22') reliée à au moins une borne de contact (P2) du circuit intégré, des moyens (CU, P22, P22') pour espionner un signal de données (S1) reçu par le circuit intégré et détecter dans le signal de données une commande d'écriture de la mémoire (MEM2), et des moyens (SW1, P22) pour appliquer la haute tension à une borne (P2) du circuit intégré lorsqu'une commande d'écriture de la mémoire a été détectée par les moyens de surveillance.

    CIRCUIT INTEGRE COMPRENANT UNE BORNE NON DEDIEE DE RECEPTION D'UNE HAUTE TENSION D'EFFACEMENT PROGRAMMATION

    公开(公告)号:FR2951576A1

    公开(公告)日:2011-04-22

    申请号:FR0905025

    申请日:2009-10-20

    Abstract: L'invention concerne un circuit intégré (IC2) alimenté électriquement par une tension d'alimentation (Vdd) et comprenant une mémoire (MEM2) effaçable et/ou programmable électriquement au moyen d'une seconde tension (HV, Vpp) supérieure à la tension d'alimentation (Vdd). Le circuit intégré comprend des moyens (WPP, TSCT, CMP, LSCT) pour recevoir la seconde tension (HV, Vpp) par l'intermédiaire d'une borne (P1) de réception de la tension d'alimentation (Vdd) ou par l'intermédiaire d'une borne (P2, P3) de réception ou d'émission d'un signal de données ou d'horloge (S1, S2). Application notamment à la réalisation d'étiquettes électroniques comportant un nombre réduit de bornes d'interconnexion.

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